(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

5.1. KONTAKTY Z „Au” DO PŁYTEK (Cd,Mn)TeMetoda nanoszenia kontaktu z użyciem roztworu kwasu AuCl 3 na (Cd,Mn)Testanowiła początek badań nad kontaktami. Opierając się na danych z literaturydotyczących tej metody, przeprowadzone zostały badania poprzez wykonaniecharakterystyk prądowo - napięciowych na monokrystalicznych płytkach (Cd,Mn)Tez naniesionymi kontaktami. Płytki (Cd,Mn)Te używane w tych doświadczeniach byłyzarówno nisko jak i wysokooporowe (od 10 3 - 10 9 Ωcm).Wykorzystane zostały dwie metody pomiaru z tak wykonanymi kontaktami: metoda dwu sondowa (dająca informacje o oporze materiału wraz z oporemkontaktów), metoda cztero sondowa (dająca rzetelną informacje o oporności właściwejmateriału bez wpływu oporu z kontaktów).Schematy obu metod zostały przedstawione w rozdziale 6.6. Ponieważ metodacztero sondowa dawała informację tylko o oporze właściwym materiału a nie wnosiłażadnych informacji o zjawiskach zachodzących na kontakcie (opór kontaktujest tu eliminowany) wyniki w postaci charakterystyk I-V z tej metody nie są tuumieszczane.W rozdziale 4.3 (i 2.4.3) opisane zostały procedury przygotowania podłożowychpłytek (Cd,Mn)Te do nanoszenia kontaktów elektrycznych. Głównym narzędziembadawczym w tym przypadku był elektrometr Kiethley 617 (opis i schematy pomiarówumieszczone są w rozdziale 6.6), za pomocą którego wykonywane były charakterystykiI-V. Płytki do wykonania tych prac były cięte na wymiar 3 x 2 x 12 mm 2 . Przy takichwymiarach kontakty były kładzione na brzegach jednej ze stron płytki lub naprzeciwnych stronach płytki. Nanoszenie roztworu AuCl 3 (1 g AuCl 3 rozpuszczone w25 g destylowanej wody) w postaci kropli o średnich wymiarach 1 x 1 mm odbywałosię przy użyciu cienkich pędzli. Następnie cała płytka była dokładnie płukanaw metanolu. Czas reakcji roztworu z powierzchnią płytki to około 20-30 s. Mechanizmreakcji chemicznych na powierzchni materiału z roztworem opisany został w rozdziale3.2. Nanoszenie roztworu kwasu chlorozłotowego przeprowadzane było w temperaturzepokojowej zarówno na stronie tellurowej ((111) B) jak i kadmowej ((111) A) próbek.Wykonane charakterystyki I-V na wyżej wymienionych płytkach przedstawionesą na rys. 5.1.1 - 5.1.8.109