(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

6. UKŁADY POMIAROWE WYKORZYSTANE DO ANALIZYKRYSZTAŁÓW ORAZ CIENKICH WARSTW6.1. ANALIZA KRYSTALOGRAFICZNA METODĄ XRDDyfrakcja promieni rentgenowskich (XRD - X-ray Diffraction) stanowi metodęnie destrukcyjnej techniki analizy materiałów, między innymi półprzewodników.Metoda ta jest wykorzystywana do badań materiałowych oraz do kontroli ich jakościkrystalograficznej.Dyfraktometria rentgenowska jest techniką w krystalografii, w której obrazdyfrakcyjny, wytworzony przez dyfrakcję promieni rentgena przez sieć przestrzennąatomów w krysztale, jest zapisywany i analizowany w celu określenia budowy tej sieci.Jest to istota poznania materiałów oraz struktur molekularnych badanych substancji.Odległości w sieci krystalicznej mogą być wyznaczone przez prawo Bragga.W dyfraktometrach rentgenowskich wytwarzana jest wiązka promienirentgenowskich i kierowana na badaną substancję (kryształ). Dyfraktometrrentgenowski jest instrumentem służącym do analizy substancji (struktur)krystalicznych na podstawie obrazu rozproszonej wiązki powstałej w wyniku ugięcia(interferencji) fali promieniowania (np. promieni rentgenowskich) na badanymobiekcie. Tradycyjny dyfraktometr zbiera refleksy punkt po punkcie, w związku z czymcały pomiar trwa nawet kilka dni. Dyfraktometry wyposażone w kamery CCD(Charged-Coupled Device), jako detektory do pomiaru intensywności wiązek ugiętychzbierają dane pomiarowe w ciągu kilku godzin. Kamera CCD posiada dwuwymiarowąpłaszczyznę fotodiod po drugiej stronie światłoczułego fosforyzującego ekranu - kiedypromienie rentgenowskie uderzają w ekran, wytwarzają światło, którego intensywnośćmierzona jest przez diody.Do badań krystalograficznych podłoży (Cd,Mn)Te oraz cienkich warstwhodowanych i napylanych w maszynie MBE (monokrystalicznych i amorficznych)wykorzystana została aparatura firmy Siemens. Pomiary wykonano na dyfraktometrzeD-5000 Diffractometer z lampą miedzianą (bez monochromatora). Obsługą aparaturypodczas pomiarów oraz interpretacją otrzymanych wyników do niniejszej rozprawyzajmował się mgr V. Domukhovski z laboratorium ON 1.2 w IF PAN w Warszawie.151