(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Zależność opisującą prawdopodobne kierunki ugięcia wiązki można zapisać w postaci:Dk x,y,z =G x,y,z . Parametr Dk x,y,z określa zmianę wektora falowego fali związanej zelektronem, natomiast G x,y,z określa wektor trójwymiarowej sieci odwrotnej kryształu.W tej sytuacji używając konstrukcji Ewalda dla trójwymiarowej sieci odwrotnej możnawyznaczyć układ dyfrakcyjnych refleksów. W rezultacie przecięcia strefy Ewaldaz trójwymiarową siecią odwrotną kryształu powstaje na ekranie fluoroscencyjnym(podczas oddziaływania ugiętej wiązki z odbitą) układ punktowych refleksówdyfrakcyjnych (ang. spots). Śledząc obraz RHEED podczas epitaksji możnazaobserwować wygładzanie się powierzchni – wzrost kolejnych warstw. Refleksy –kropki wyciągają się wzdłuż w kształt spłaszczonej elipsy pochodzącejz dwuwymiarowej dyfrakcji, co oznacza, że powierzchnia jest atomowo gładka [3].Struktura obrazów RHEEDPodczas dyfrakcji wysokoenergetycznych elektronów cześć wiązki będziewnikać w objętość płytki w obrębie kilku monowarstw atomowych i ulegaćwielokrotnemu rozproszeniu wewnątrz krystalicznej płytki. Skutkiem dyfrakcjiw objętości krystalicznej płytki są tak zwane linie Kikuchi. Obserwowane są na ekraniefluoroscencyjnym układu RHEED, w dokładnie określonym położeniu względemprążków dyfrakcyjnych od dwuwymiarowej powierzchni. Obecność tych linii świadczyo idealnej w objętości jakości strukturalnej kryształu.W skład obrazu dyfrakcyjnego wchodzą między innymi:a) plamka zwierciadlana, umiejscowiona na prążku o indeksie (00) oraz dokładniezaznaczona granica cienia obrazu,b) rozciągnięte prostopadle do powierzchni krystalicznej płytki prążki (z ang.streaks”),c) linie Kikuchi oraz refleksy braggowskie.Plamka zwierciadlana oraz prążki występują w warstwie przypowierzchniowej,natomiast w objętości płytki krystalicznej tworzą się linie Kikuchi oraz refleksybraggowske [3]. Przy użyciu tej techniki badawczej można obserwować (rys. 4.2.4)zmiany zachodzące podczas wzrostu warstw epitaksjalnych, a także stan i jakośćpodłoża – wpływ morfologii podłoża na wzrost (różnie przygotowane podłoże a-d) i e-h)).94