(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

I)II)III)Rysunek 5.3.1.2. Obrazy z mikroskopu SEM powierzchni amorficznej warstwy ZnTe:Sb o grubości:I) 100 nm, II) 300 nm. III) 1μm na podłożu (Cd,Mn)Te. Zdjęcia A1) - A3) powierzchni warstwy gdziew górnych rogach znajdują się zdjęcia w dużym zbliżeniu pojedynczej dziury. Nie wszystkie białeelementy na tych zdjęciach są dziurami (niektóre to zanieczyszczenia, inne to krystaliczne strukturywystające z amorficznej chropowatej powierzchni. Wszystkie obrazy A1)-A3) wykonane zostały dlapowiększenia 300 krotnego (energia wiązki elektronów 15.0kV). Rys. I, II i III obszary A1)-A3) -zaznaczone zostały elementy i odpowiednie dla nich powiększenia. Czerwone strzałki wskazująpowiększony element w rozróżnieniu składu pierwiastkowego (w każdym z trzech przypadków jest toCd, Zn, Te i Sb).134