- Page 1: INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII N
- Page 7 and 8: Amorficzne warstwy w odróżnieniu
- Page 9 and 10: 2. DETEKTORY PROMIENIOWANIA X I GAM
- Page 11 and 12: 2.1. MECHANIZMY ODDZIAŁYWANIA PROM
- Page 13 and 14: Może to też być elektron, z tym
- Page 15 and 16: Działanie detektora opiera się w
- Page 17 and 18: 2.2. DETEKTORY PÓŁPRZEWODNIKOWE -
- Page 19 and 20: Główne korzyści ze związków p
- Page 21 and 22: Jak widać bardziej korzystne okazu
- Page 23 and 24: Wysoka oporność właściwa (ρ) j
- Page 25 and 26: Natomiast problemy podczas wzrostu
- Page 27 and 28: Ponadto, ze względu na dużą gęs
- Page 29 and 30: Metody wzrostu związków CdTe i (C
- Page 31 and 32: Rysunek 2.2.5. Obrazy defektów str
- Page 33 and 34: gdzie e jest ładunkiem elektronu,
- Page 35 and 36: 2.4. (Cd,Mn)Te JAKO NOWY MATERIAŁ
- Page 37 and 38: Przesunięte są one względem sieb
- Page 39 and 40: 2.4.1. TECHNOLOGIA WZROSTU KRYSZTA
- Page 41 and 42: Rysunek 2.4.1.3. Konstrukcja piecad
- Page 43 and 44: 2.4.2. DOMIESZKI W (Cd,Mn)TePodrozd
- Page 45 and 46: Innymi rodzimymi defektami powstał
- Page 47 and 48: Jako nieaktywna domieszka nie wpły
- Page 49 and 50: 2.4.3. WYGRZEWANIE I JEGO WPŁYW NA
- Page 51 and 52: Rysunek 2.4.3.2. Obrazy kryształó
- Page 53 and 54:
Rys. 2.4.3.5 przedstawia jamki traw
- Page 55 and 56:
BIBLIOGRAFIA DO ROZDZIAŁU 21. T. E
- Page 57 and 58:
37. J. C. Launay, V. Mazoyer, M. Ta
- Page 59 and 60:
3.1. PROSTA TEORIA ZŁĄCZ M-SZłą
- Page 61 and 62:
Jeżeli teraz do tego złącza zost
- Page 63 and 64:
Wskutek tego tworzy on szeroką war
- Page 65 and 66:
3.2. KONTAKTY ELEKTRYCZNE DO CdTe I
- Page 67 and 68:
Jeśli trzy miejsca nie są zajęte
- Page 69 and 70:
Dla poprawnego określenia typu kon
- Page 71 and 72:
Rysunek 3.2.5 pokazuje jak zmieniaj
- Page 73 and 74:
Wyniki badań L. Wanga [6], prowadz
- Page 75 and 76:
Po szlifowaniu często stosuje się
- Page 77 and 78:
19. T. Takahashi, K. Hirose, C. Mat
- Page 79 and 80:
Warstwy epitaksjalne wzrastają jak
- Page 81 and 82:
Poszczególne elementy układu MBE
- Page 83 and 84:
W górnej części komory głównej
- Page 85 and 86:
Rysunek 4.7. Zdjęcie wnętrza komo
- Page 87 and 88:
W wielu przypadkach współczynnik
- Page 89 and 90:
Z tygli umieszczonych w komórkach
- Page 91 and 92:
4.2. ODBICIOWA DYFRAKCJA ELEKTRONÓ
- Page 93 and 94:
Obraz dyfrakcji wysokoenergetycznyc
- Page 95 and 96:
Podłoża do wzrostu z przedziału
- Page 97 and 98:
4.3. PRZYGOTOWANIE PODŁOŻA DO NAN
- Page 99 and 100:
W sytuacji, kiedy mamy nadmiar tell
- Page 101 and 102:
Jak już wcześniej wspomniano para
- Page 103 and 104:
W przypadku procesów napylania spr
- Page 105 and 106:
Rysunek 4.4.1. Krzywe równowagi pa
- Page 107 and 108:
5. CIENKIE WARSTWY JAKO KONTAKTYDO
- Page 109 and 110:
5.1. KONTAKTY Z „Au” DO PŁYTEK
- Page 111:
Do testów użyte zostały zarówno
- Page 114 and 115:
Rysunek 5.2.2. Model złącza z prz
- Page 116 and 117:
Na podstawie otrzymanych charaktery
- Page 118 and 119:
Jak widać z zestawienia map z mikr
- Page 120 and 121:
Rysunek 5.2.9. Charakterystyki I-V
- Page 122 and 123:
Porównując wyniki naszych warstw
- Page 124 and 125:
amorficzna warstwa jest obszarem pr
- Page 126 and 127:
Następnie w całości płytka jest
- Page 128 and 129:
5.3.4. Charakterystyka I-V prądupr
- Page 130 and 131:
Nr próbki Podłoże WarstwaWyniki
- Page 132 and 133:
Dla podanych w tabeli 5.3.3 próbek
- Page 134 and 135:
I)II)III)Rysunek 5.3.1.2. Obrazy z
- Page 136 and 137:
Rysunek 5.3.1.4. Charakterystyki I-
- Page 138 and 139:
Rysunek 5.3.1.5. Schemat ułożenia
- Page 140 and 141:
5.3.2. BADANIE TYPU PRZEWODNICTWAKi
- Page 142 and 143:
Wykonano charakterystyki I-V dla p
- Page 144 and 145:
5.3.3. PRĄD POWIERZCHNIOWY - LCJak
- Page 146 and 147:
Rysunek 5.3.3.2. Charakterystyka I-
- Page 148 and 149:
W ostateczności otrzymano 3 charak
- Page 150 and 151:
BIBLIOGRAFIA DO ROZDZIAŁU 51. http
- Page 152 and 153:
6.2. BADANIE STRUKTURY POWIERZCHNI
- Page 154 and 155:
Metoda ta jest powierzchniową meto
- Page 156 and 157:
6.5. POMIARY WŁASNOŚCI TRANSPORTO
- Page 158 and 159:
6.6. CHARAKTERSYTYKI PRĄDOWO NAPI
- Page 160 and 161:
6.7 POMIARY OPORNOŚCI WŁAŚCIWEJ
- Page 162 and 163:
Pierwszy etap A (z tab. 6.2.1) opis
- Page 164 and 165:
BIBLIOGRAFIA DO ROZDZIAŁU 61. M. W
- Page 166 and 167:
Jest to istotnym faktem gdy myślim
- Page 168:
Autor rozprawy uczestniczył także