(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Do testów użyte zostały zarówno płytki wygrzane jak i nie wygrzewane.W przypadku płytek wysokooporowych, a także niskooporowych nie zaobserwowanożadnej zależności w poprawie liniowości krzywych I-V poddanych procesomwygrzewania próbek (wygrzewany był sam materiał bez kontaktu). Można zauważyćwzrost oporności właściwej samego materiału (rys. 5.1.1 oraz 5.1.2). Czasami, jak towidać na charakterystykach rys. 5.1.3, 5.1.4, 5.1.5 uzyskiwano liniowe zależnościprądowo napięciowe, jednak w większości przypadków były one nieliniowe.Chemicznie osadzane złoto z kwasu AuCl 3 na powierzchni (Cd,Mn)Te tworzy warstwęprzejściową pomiędzy materiałem wysokooporowym a metalem. Z powodów nie dokońca oczywistych warstwa ta zazwyczaj (ale nie zawsze) stanowi barierę dla nośnikówprzez nią przepływających, na co wskazują charakterystyki I-V. Reakcje chemicznena powierzchni materiału są w dużym stopniu zależne od warunków otoczenia,temperatury, czy stężenia samego AuCl 3 . Pomimo stosowania różnych kombinacjinanoszenia tych kontaktów można stwierdzić, iż są one mało powtarzalne jeżeli chodzio badane płytki (Cd,Mn)Te. Sugeruje to, że ta metoda nie stanowi dobrej technologiinanoszenia kontaktów dla płytek na detektory promieniowania X i gamma.Kontakty elektryczne wykonane zostały także poprzez napylanie złota w próżni(gdzie wykorzystano do tego celu maszynę MBE). Charakterystyki prądowo -napięciowe tak samo jak w przypadku kwasu AuCl 3 dawały nie powtarzalne, częstonieliniowe charakterystyki. Wytłumaczenie takiego zachowania krzywych I-V w tymprzypadku może być związane z pracami wyjścia. Jak już wcześniej było podkreślone(rozdział 3), by kontakt był omowy dla materiału typu p musi mieć on pracę wyjściamniejszą niż praca wyjścia metalu (Φ s < Φ m ). Warunek ten nie może być spełniony,gdyż w przypadku CdTe typu p praca wyjścia wynosi Φ s ~ 6 eV zaś dla Au ma wartośćΦ m ~ 5 eV.Rysunki 5.1.9 i 5.1.10 przedstawiają charakterystyki I-V dla płytek (Cd,Mn)Tez kontaktami w formie napylonego w warunkach próżni złota. W tym przypadkubadaniom poddane zostały płytki wysokooporowe (rys. 5.1.9, ρ ≈ 10 8 Ωcm) orazniskooporowe (rys. 5.1.10, ρ ≈ 10 5 Ωcm), gdzie wartości oporności właściwej samegomateriału uzyskany został metodą cztero sondową.Pytanie, które może się nasuwać to, czy grubość warstwy przejściowejwykonanej z kwasu AuCl 3 ma wpływ na linowość charakterystyk I-V? W celu zbadaniatej zależności wykonane zostały charakterystyki prądowo - napięciowe i analiza SIMSpłytki (Cd,Mn)Te z różnymi czasami reakcji kwasu z powierzchnią materiału.111