Obraz krawędzi płytki z licznymi dyslokacjami przedstawia rys. 2.4.3.6.Tak duża ilość jamek trawienia skumulowana na krawędzi materiału związana jestz naprężeniami na powierzchni wytopu, gdzie materiał ma styczność z ampułą.Rysunek 2.4.3.6. Obraz z mikroskopuoptycznego krawędzi płytki po trawieniuna EPD.Zarówno w obserwacji jamek trawienia – dyslokacji, jak i wydzieleńtellurowych widoczna jest różnica w wartościach gęstości przed i po wygrzewaniubadanych płytek. Jak dotąd najlepsze rezultaty otrzymywano przy wygrzewaniachw nasyconych parach kadmu oraz gradiencie temperatury. Oczywiście prace nadpolepszeniem struktury płytek (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong> poprzez proces wygrzewania i jego różnemodyfikacje są wciąż kontynuowane.54
BIBLIOGRAFIA DO ROZDZIAŁU 21. T. E. Schlasinger, J.E. Toney, H. Yoon, E.Y. Lee, B.A. Brunett, L. Franks, R.B.James, “Cadmium zinc telluride and its use as a nuclear radiation detectormaterial” Mat. Scie. Engi., R 32, (2001).2. T. E. Schlesinger, P. B. James, “Semiconductor for Room <strong>Te</strong>pperature NuclearDetector Applications”, Semiconductors and Semimetals, Vol. 43, (1995).3. S. Del Sordo, L. Abbene, E. Caroli, A. M. Mancini, A. Zappettini and P. Ubertini“Progress in the Development of <strong>Cd</strong><strong>Te</strong> and <strong>Cd</strong>Zn<strong>Te</strong> Semiconductor RadiationDetectors for Astrophysical and Medical Applications” Sensors 9 (2009).4. T. Takahasi, S. Watanabe „Recent progressin <strong>Cd</strong><strong>Te</strong> and (<strong>Cd</strong>,Zn)<strong>Te</strong> detectors”,IEEE TNS, vol. 48, No. 4, (2001).5. C. Szeles “(<strong>Cd</strong>,Zn)<strong>Te</strong> and <strong>Cd</strong><strong>Te</strong> materials for X-ray and gamma ray radiationdetector applications” phys. stat. sol. (b) 241, No. 3, (2004).6. Prezentacja „Pomiary promieniowania X na tokamaku”Sema_2005_EURATOM.ppt Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion.7. J. B. A. England “Metody doświadczalne fizyki jądrowej” Warszawa PWN,(1980).8. A. Owens, A. Peacock, „Compaund semiconductor radiation detectors” NIM A,Vol. 531 (2004).9. A. Burger, M. Groza, Y. Cui, U. N. Roy, D. Hillman, M. Guo, L. Li, G. M.Wright, R. B. James, “Development of probe <strong>Cd</strong>Zn<strong>Te</strong> spectrometers for remotesensing of signatures from nuclear materials” phys. stat. sol. (c) 2, No.5, (2005).10. P. Fougeres, P. Siffert, M. Hage-Ali, J. M. Koeble, R. Regal, “<strong>Cd</strong><strong>Te</strong> and <strong>Cd</strong>Zn<strong>Te</strong>for nuclear detectors: facts and fictions”, NIM A 428 (1999).11. T. Takahasi “Recent Advances on <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>/<strong>Cd</strong>Zn<strong>Te</strong> detectors” For high energyphoton- presentation (2008).12. http://dsid.ipj.gov.pl/files/LudwikD/200902%20medycyna/07.pdf13. A. Mycielski, A. Burger, M. Sowinska, M. Groza, A. Szadkowski, P. Wojnar,B. Witkowska, W. Kaliszek, P. Siffert,, „Is the (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong> crystal a prospectivematerial for X-ray and gamma – ray detectors?” phys. Stat.sol. N. 5, (2005).14. T. Schulman “Si, <strong>Cd</strong><strong>Te</strong> and <strong>Cd</strong>Zn<strong>Te</strong> radiation detectors for imagingapplications”, University of Helsinki, Finland (2006).15. E. Nowak, “Metodyka pomiarowa śródoperacyjnej lokalizacji węzłów chłonnych izmian patologicznych z zastosowaniem pozycjoczułej sondy promieniowaniagamma” Rozprawa doktorska AG-H , Kraków (2005).16. J. D. Eskin „Signals induced In semiconductor gamma-ray imaging detectors”,J. Appl. Phys. 85 (2), (1999).55