(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN
(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN
(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
5.3.4. Charakterystyka I-V prąduprzepływającego pomiędzy dwomaamorficznymi kontaktami w postaci<strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:In, napylonych na jedną (tellurową)stronę płytki (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong>. A) pomiar dwusondowy, B) pomiar trzy i cztero sondowy.W górnych rogach układ sondna powierzchni płytki z warstwamido pomiarów I-V. Z pomiaru 4 sondowego(prąd 1→4 a napięcie 2-3) uzyskano wynikoporności właściwej rzędu ρ = 7·10 9 Ωcm.5.3.5. Charakterystyka I-V prąduprzepływającego pomiędzy dwomaamorficznymi kontaktami w postaciZn<strong>Te</strong>:Sb, napylonych na jedną (tellurową)stronę płytki (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong>. A) pomiar dwusondowy, B) pomiar trzy sondowy.W górnych rogach układ sond napowierzchni płytki z warstwami dopomiarów I-V. Z pomiaru 4 sondowego(prąd 1→4 a napięcie 2-3) uzyskano wynikoporności właściwej rzędu ρ = 4·10 10 Ωcm.128
Change language