(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Rys. 2.4.3.5 przedstawia jamki trawienia przed wygrzewaniem dla płytek(Cd,Mn)Te zaobserwowane pod mikroskopem optycznym.ABRysunek 2.4.3.5. Obrazy jamek trawienia (EPD) uzyskane z mikroskopu optycznego na płytkach(Cd,Mn)Te przed wygrzewaniem. A – Cd 0,95 Mn 0,05 Te:V (510 14 cm -3 ) obserwacja środka płytki, EPD10 3 -10 4 cm -2 ; B – Cd 0,95 Mn 0,05 Te:V (510 14 cm -3 ) obserwacja brzegu płytki, EPD 10 5 cm -2 .Typowe EPD na powierzchni kryształów (Cd,Mn)Te wynosi 10 3 -10 5 cm -2 .Po procesie wygrzewania następuje spadek zagęszczenia dyslokacji. Zestawieniewyników obserwacji gęstości dyslokacji na obydwu stronach (Cd i Te) płytek(Cd,Mn)Te przedstawia tabela 2.4.3.1.Nr wytopuPłytki nie wygrzewanePłytki po wygrzewaniustrona Cd strona Te strona Cd strona TeGęstość defektów [cm -2 ]45032,5∙10 35,6∙10 57,5∙10 4 6,7∙10 45,7∙10 54,5∙10 4 1,5∙10 210 31,8∙10 3 9,0∙10 33,5∙10 42,8∙10 44512 1,7∙10 5 1,4∙10 5 7,0∙10 5 4,5∙10 44513 9,2∙10 4 3,0∙10 4 2,5∙10 3 1,8∙10 44519 5,8∙10 4 4,3∙10 5 1,3∙10 5 3,4∙10 545204,8∙10 5 4,9∙10 5 4,4∙10 5 8,8∙10 58,2∙10 5 2,4∙10 5 2,1∙10 5 7,4∙10 44527 5,0∙10 3 2,5∙10 4 10 3 1,1∙10 4Tabela 2.4.3.1. Zestawienie wyników uzyskanych z mikroskopii optycznej dla płytek krystalicznych(Cd,Mn)Te. Dane uzyskane po trawieniu materiału – EPD; gęstości dyslokacji dla próbek wyciętych zkryształu po wzroście i wygrzewaniu [23].Wyniki w tabeli 2.4.3.1 przedstawiają wartości EPD obserwowane w środkowejczęści płytki. Obserwowane były również krawędzie wytopu, co pozwoliło nam ustalićże na brzegu kryształu gęstość dyslokacji jest dużo większa.53