(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Rysunek 5.3.1.5. Schemat ułożenia płytki(Cd,Mn)Te z amorficznymi warstwami podczaspomiaru parametrów: ρ i μτZawarte w tabeli 5.3.1.1 dane pomiarowe wskazują na brak lub na niewielkiwpływ szerokości warstwy na czynnik μτ a także ρ. Istnienie nieznacznego wpływuwskazują dane z tabeli 5.3.1.1, gdzie parametr μτ z warstwami jest o 1/3 mniejszy.Badanie te przeprowadzono jeszcze na innych wytopach o podobnych parametrachoporności właściwej i wyniki potwierdziły brak wpływu (lub niewielki wpływ)szerokości warstw amorficznych na zmiany badanych parametrów.Płytki ρ [Ωcm] μτ [cm 2 /V]Nr./typPłytka bezwarstwyAmorficznewarstwy ZnTe:Sbna obydwu stronachpłytkiPłytka pousunięciuwarstwPłytka bezwarstwyAmorficznewarstwy ZnTe:Sbna obydwu stronachpłytki100 nm 1 μm 100 nm 1 μmPłytka pousunięciuwarstw(Cd,Mn)Te4561_5b~ 2·10 9 2,3·10 9 2,16·10 9 ~ 2,5·10 9 1,75·10 -4 1,3·10 -4 1,2·10 -4 ~ 2·10 -4Tabela 5.3.1.1. Dane z pomiarów czynnika μτ oraz parametru ρ dla materiału z różnymi grubościamiwarstw amorficznych. Grubość płytki na którą napylane były warstwy wynosiła około 2,5-3 mm.Sytuacja ta wydaje się być logiczna, gdyż czynnik μτ stanowi parametrcharakterystyczny dla materiału detekcyjnego (charakterystyka parametru zostałaprzeprowadzona w pierwsze części rozprawy) i teoretycznie warstwa (o grubościponiżej 1μm) a więc o grubości jednego promila w stosunku do grubości płytki(Cd,Mn)Te nie powinna wpływać na jego wartość, co też potwierdziły powyższebadania.Jak już wcześniej było wspominane podczas działania płytki detekcyjnejgenerowana jest w niej (poprzez oddziaływanie z promieniowaniem) chmura ładunkównośnikowych. Dlatego też, należy przykładać odpowiednio wysokie napięcia by jaknajszybciej ściągać odpowiedni typ ładunku do danej elektrody w celu uzyskaniadokładnego sygnału (rejestrowany jest wówczas prąd). Wiąże się to także z niedopuszczeniem do szybkiej rekombinacji tych nośników.138