(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Dla poprawnego określenia typu kontaktu należy znać wartość prac wyjściamateriału do którego kontakt ma zostać wykonany. W tabeli 3.1.2. zostały zawarteprzykładowe dane dla związków CdTe i ZnTe.Praca wyjścia Φ m [eV]Półprzewodnik E g [eV]typeVn 4,5CdTe 1,51p 5,97n 3,5ZnTe 2,23p 5,76CdZnTe * 1,6 n 5,1Tabela 3.2.2. Wartości prac wyjścia dla materiałów na detektory promieniowania [20,21 * ].Wiele publikacji rozpatruję tą tematykę dla CdTe i (Cd,Zn)Te. L. Wang [6]opublikował interesujące wyniki dotyczące typów materiałów stosowanych jakokontakty do wysokooporowych płytek (Cd,Zn)Te. Niezależnie od typu metalu prawiewszystkie próby (na różnych płytkach) dawały nieliniowe charakterystyki I-V (rys.3.2.3). Jedynie wykonane z In kontakty dawały bliskie omowości charakterystyki I-V.Rysunek 3.2.3 Charakterystyki I-V dlapłytek (Cd,Zn)Te z kontaktamiwykonanymi z różnych metali [6].Podczas charakteryzacji kontaktu przez pomiar I-V, można się spotkaćz trudnościami wynikającymi z wpływu prądu powierzchniowego (prąd upływu) tzw.leakage current (LC). Jest on dodatkowym wkładem do charakterystyk prądowonapięciowych,co powoduje, że są one w pewnym stopniu zafałszowane. Prąd tenpochodzi od defektów na powierzchni i krawędziach badanego materiału. Wpływa onna obniżenie wypadkowej oporności właściwej. Pojęcie to zostało już wcześniejwielokrotnie użyte w pracy jednakże w tym miejscu przedstawiona zostanie tematykazwiązana z rozwiązaniem tego problemu.Obecnie stosowanych jest kilka metod eliminacji, bądź zmniejszenia wpływuLC, dzięki czemu możliwe jest poprawne określanie wartości oporności właściwejmateriału oraz ustalenie poprawnej wartości oporu kontaktu.69