(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Obraz dyfrakcji wysokoenergetycznych elektronów na krystalicznym podłożui jego konsekwencje w postaci prążków obserwowanych na fluoroscencyjnym ekranieprzedstawia rys. 4.2.3.Rysunek 4.2.3. Schemat dyfrakcji elektronów na gładkiej powierzchni podłoża. A) przecięcie sferyEwalda z prętami sieci odwrotnej i powstanie obrazu na ekranie fluoroscencyjnym, B) mechanizmpowstawania prążków dyfrakcyjnych na skutek przecięcia sfery Ewalda z prętami sieci odwrotnej [3,8,9].W zależności od typów mechanizmów (3- lub 2-wymiarowych) dominującychw procesie dyfrakcji, obserwowana jest zmiana geometrii obrazu dyfrakcyjnego.W modelu kinetycznym dyfrakcji elektronów, rozkład refleksów dyfrakcyjnychw przestrzeni można określić analogicznie jak w przypadku dyfrakcji rentgenowskiej,przy pomocy konstrukcji Ewalda [3]. Jedynie w przypadku dyfrakcji dwuwymiarowejsieci prostej, elementami sieci odwrotnej są linie proste, a nie punkty jak to ma miejscepodczas dyfrakcji trójwymiarowej. Kierunek ugiętej wiązki w przypadku dyfrakcjidwuwymiarowej określa zależność: Dk x,y =G x,y . Parametr Dk x,y określa zmianęskładowej w przestrzeni x,y wektora falowego fali związanej z elektronem, natomiastG x,y określa wartość sieci odwrotnej w tej samej płaszczyźnie. Płaszczyzna x,y jestrównoległa do powierzchni odpowiadającej orientacji kryształu (podłoża). W związkuz tym, że rozpatrujemy elastyczne procesy, zmiana składowej z wektora falowegok wynika w tym przypadku z zachowania długości wektora falowego. Przecięcie strefyEwalda z prętami sieci odwrotnej wyznacza możliwe kierunki ugiętej fali.Dla rzeczywistych powierzchni podłoża występuje rozmycie prętów sieci odwrotnej,co jest wynikiem różnego rodzaju zaburzeń periodyczności powierzchni. Natomiastpromień strefy Ewalda jest dużo większy od wzajemnych odległości sąsiednich prętówsieci odwrotnej co oznacza małą krzywiznę strefy. W związku z tym przecięcia strefyEwalda z prętami sieci odwrotnej mają kształt zbliżony do pasemek (ang. streaks),jak schematycznie przedstawia to rys. 4.2.3 (B). Rozpatrując obraz dyfrakcyjny należyrównież uwzględnić, że powierzchnia podłoża (kryształu) może być szorstka.Ma miejsce wówczas wnikanie elektronów w objętość kryształu, czyli dyfrakcjana trójwymiarowej sieci krystalicznej.93