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Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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5.2 Strukturelle Eigenschaften der BST Schichten 97<br />

∆d [Å]<br />

0,04<br />

0,03<br />

0,02<br />

0,01<br />

0<br />

0 0,5 1<br />

sin²ψ<br />

Abbildung 5.16: Dehnung des<br />

Gitters in der sin²ψ Darstellung<br />

für eine bei 625°C gewachsene<br />

BST Schicht auf Platin. Der extrapolierte<br />

Wert für ∆d bei<br />

sin²ψ=1 ergibt die tetragonale<br />

Verzerrung verglichen mit dem<br />

Bulk.<br />

Mit dieser Verzerrung kann nach Gleichung 5.3 die Spannung im Film berechnet werden:<br />

σ = E /( v + 1)<br />

ε<br />

5.3<br />

Bei angenommenem Elastizitätsmodul E = 107Gpa und einer Poissonzahl von v = 0,3 [108]<br />

ergibt sich eine Zugspannung von 500 bis 900MPa. Dieser Wert stimmt recht gut mit dem<br />

Wert von 610MPa überein, der aus der Messung der Krümmung des Substrates erhalten wurde<br />

[109]. Dabei ist zu beachten, dass die elastischen Konstanten des BST nicht genau bekannt<br />

sind, so dass sich aus den direkt gemessenen Dehnungen auch höhere Spannungen ableiten<br />

lassen: Nimmt man den aus Einkristalldaten abgeleiteten Mittelwert zwischen kubischem<br />

STO und BST, E = 210Gpa [110], so ergeben sich doppelt so hohe Werte für die Spannungen,<br />

die mit ebenfalls aus Dehnungsmessungen abgeleiteten Werten von ~2200MPa [111] übereinstimmen.<br />

Zusätzlich kann aus dem sin²ψ-plot der Gitterparameter des unverzerrten BST entnommen<br />

werden, der mit den Werten für die monolithische Keramik verglichen werden kann. Dieser<br />

Wert ergibt sich aus Gleichung 3.10 für εψ = 0 unter Berücksichtigung der freien Schichtoberfläche<br />

(σ3 = 0) zu: sin²ψ = 2v/(1+v), für v = 0,3 also, wie in Abbildung 5.16 eingezeichnet, bei<br />

sin²ψ = 0,46.<br />

Weitere Details der Mikrostruktur wurden mit Hilfe der HRTEM untersucht. Abbildung 5.17<br />

zeigt eine Querschnittsaufnahme (cross section) des Übergangs zwischen dem orientierten<br />

Platinsubstrat und dem orientierten BST. Wir beobachten keine amorphe oder<br />

anders orientierte Grenzschicht zwischen den beiden kristallinen Phasen. Neueste Untersuchungen<br />

(H.Z. Jin et al. [112]) haben gezeigt, dass der Gitterabstand der ersten Atomlage von<br />

BST auf Platin um 22% größer ist, als der sonstige Gitterabstand. Es muss noch gezeigt werden,<br />

ob sich hier eine Erklärung für das im 3. Kapitel vorgestellte phänomenologische „dead<br />

layer model“ findet.<br />

Pt 111<br />

001<br />

010<br />

2nm<br />

Abbildung 5.17: HRTEM zeigt<br />

den Übergang zwischen dem<br />

Platin-Substrat und der <br />

orientierten BST Schicht. Es<br />

wird keine anders geartete Zwischenschicht<br />

beobachtet.

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