Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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5.2 Strukturelle Eigenschaften der BST Schichten 97<br />
∆d [Å]<br />
0,04<br />
0,03<br />
0,02<br />
0,01<br />
0<br />
0 0,5 1<br />
sin²ψ<br />
Abbildung 5.16: Dehnung des<br />
Gitters in der sin²ψ Darstellung<br />
für eine bei 625°C gewachsene<br />
BST Schicht auf Platin. Der extrapolierte<br />
Wert für ∆d bei<br />
sin²ψ=1 ergibt die tetragonale<br />
Verzerrung verglichen mit dem<br />
Bulk.<br />
Mit dieser Verzerrung kann nach Gleichung 5.3 die Spannung im Film berechnet werden:<br />
σ = E /( v + 1)<br />
ε<br />
5.3<br />
Bei angenommenem Elastizitätsmodul E = 107Gpa und einer Poissonzahl von v = 0,3 [108]<br />
ergibt sich eine Zugspannung von 500 bis 900MPa. Dieser Wert stimmt recht gut mit dem<br />
Wert von 610MPa überein, der aus der Messung der Krümmung des Substrates erhalten wurde<br />
[109]. Dabei ist zu beachten, dass die elastischen Konstanten des BST nicht genau bekannt<br />
sind, so dass sich aus den direkt gemessenen Dehnungen auch höhere Spannungen ableiten<br />
lassen: Nimmt man den aus Einkristalldaten abgeleiteten Mittelwert zwischen kubischem<br />
STO und BST, E = 210Gpa [110], so ergeben sich doppelt so hohe Werte für die Spannungen,<br />
die mit ebenfalls aus Dehnungsmessungen abgeleiteten Werten von ~2200MPa [111] übereinstimmen.<br />
Zusätzlich kann aus dem sin²ψ-plot der Gitterparameter des unverzerrten BST entnommen<br />
werden, der mit den Werten für die monolithische Keramik verglichen werden kann. Dieser<br />
Wert ergibt sich aus Gleichung 3.10 für εψ = 0 unter Berücksichtigung der freien Schichtoberfläche<br />
(σ3 = 0) zu: sin²ψ = 2v/(1+v), für v = 0,3 also, wie in Abbildung 5.16 eingezeichnet, bei<br />
sin²ψ = 0,46.<br />
Weitere Details der Mikrostruktur wurden mit Hilfe der HRTEM untersucht. Abbildung 5.17<br />
zeigt eine Querschnittsaufnahme (cross section) des Übergangs zwischen dem orientierten<br />
Platinsubstrat und dem orientierten BST. Wir beobachten keine amorphe oder<br />
anders orientierte Grenzschicht zwischen den beiden kristallinen Phasen. Neueste Untersuchungen<br />
(H.Z. Jin et al. [112]) haben gezeigt, dass der Gitterabstand der ersten Atomlage von<br />
BST auf Platin um 22% größer ist, als der sonstige Gitterabstand. Es muss noch gezeigt werden,<br />
ob sich hier eine Erklärung für das im 3. Kapitel vorgestellte phänomenologische „dead<br />
layer model“ findet.<br />
Pt 111<br />
001<br />
010<br />
2nm<br />
Abbildung 5.17: HRTEM zeigt<br />
den Übergang zwischen dem<br />
Platin-Substrat und der <br />
orientierten BST Schicht. Es<br />
wird keine anders geartete Zwischenschicht<br />
beobachtet.