Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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46 3 Experimentelles<br />
Neben der Massenbelegung wird im Folgenden oft die anschaulichere Größe der Schichtdicke<br />
verwendet, die analog zu obigem Verfahren unter Verwendung der Dichte rückgerechnet<br />
wird. Hier geht jedoch die aktuelle Dichte der Schicht ein, die von der Stöchiometrie und der<br />
möglichen Porosität und Inhomogenität abhängt. Im Falle des BST kann die Abhängigkeit<br />
vom Ba- und Sr- Gehalt aufgrund der Mischbarkeit der Oxide leicht berücksichtigt werden<br />
(Dichte von BaTiO3 ist ρ = 6,010g/cm³ und von SrTiO3 ist ρ = 5,117g/cm³). Die anderen Parameter<br />
müssen als mögliche Fehlerquellen berücksichtigt werden. [15]. Zudem ist, speziell<br />
bei dünnen Schichten auf Silizium die Möglichkeit zu beachten, dass Atome ins Substrat diffundieren.<br />
3.2.2 Photoelektronenspektroskopie (XPS)<br />
Beim XPS wird wie auch schon beim XRF die Photoemission benutzt, siehe Abbildung 3.11.<br />
Die Anregung erfolgt mit weichen Röntgenstrahlen (Al-Kα, Mg-Kα in Laborgeräten) und die<br />
Energie der emittierten Photoelektronen wird von einem Spektrometer analysiert. Die kinetische<br />
Energie EK der gemessenen Elektronen ist zum einen von der Photonenenergie hν der<br />
Röntgenstrahlung abhängig und zum anderen von der Bindungsenergie der Elektronen EB.<br />
Dieser Parameter ist es, mit dem die Elemente charakterisiert werden können. In Gleichung<br />
3.4 berücksichtigt W den Einfluss des Spektrometers auf die kinetische Energie der Elektronen.<br />
EB K<br />
= hν<br />
− E −W<br />
3.4<br />
Abbildung 3.13 zeigt den schematischen Aufbau des Elektronenspektrometers. Dieser besteht<br />
aus einem Paar konzentrischer Elektroden zwischen denen ein Spalt ist, sodass Elektronen<br />
sich hindurch bewegen können. Zwischen diesen beiden Elektroden wird eine Potentialdifferenz<br />
∆V angelegt, wobei die äußere Hemisphäre negativer, als die innere ist. Dieser Aufbau<br />
wirkt dann wie ein Energiefilter auf tangential hindurchfliegende Elektronen.<br />
Abbildung 3.13: Der hemisphärische<br />
Analysator. Über die Potentialdifferenz<br />
an den konzentrischen<br />
Elektroden und über<br />
den Kanal des Detektors kann die<br />
kinetische Energie der Photoelektronen<br />
bestimmt werden, die<br />
das Linsensystem passiert haben.