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Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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46 3 Experimentelles<br />

Neben der Massenbelegung wird im Folgenden oft die anschaulichere Größe der Schichtdicke<br />

verwendet, die analog zu obigem Verfahren unter Verwendung der Dichte rückgerechnet<br />

wird. Hier geht jedoch die aktuelle Dichte der Schicht ein, die von der Stöchiometrie und der<br />

möglichen Porosität und Inhomogenität abhängt. Im Falle des BST kann die Abhängigkeit<br />

vom Ba- und Sr- Gehalt aufgrund der Mischbarkeit der Oxide leicht berücksichtigt werden<br />

(Dichte von BaTiO3 ist ρ = 6,010g/cm³ und von SrTiO3 ist ρ = 5,117g/cm³). Die anderen Parameter<br />

müssen als mögliche Fehlerquellen berücksichtigt werden. [15]. Zudem ist, speziell<br />

bei dünnen Schichten auf Silizium die Möglichkeit zu beachten, dass Atome ins Substrat diffundieren.<br />

3.2.2 Photoelektronenspektroskopie (XPS)<br />

Beim XPS wird wie auch schon beim XRF die Photoemission benutzt, siehe Abbildung 3.11.<br />

Die Anregung erfolgt mit weichen Röntgenstrahlen (Al-Kα, Mg-Kα in Laborgeräten) und die<br />

Energie der emittierten Photoelektronen wird von einem Spektrometer analysiert. Die kinetische<br />

Energie EK der gemessenen Elektronen ist zum einen von der Photonenenergie hν der<br />

Röntgenstrahlung abhängig und zum anderen von der Bindungsenergie der Elektronen EB.<br />

Dieser Parameter ist es, mit dem die Elemente charakterisiert werden können. In Gleichung<br />

3.4 berücksichtigt W den Einfluss des Spektrometers auf die kinetische Energie der Elektronen.<br />

EB K<br />

= hν<br />

− E −W<br />

3.4<br />

Abbildung 3.13 zeigt den schematischen Aufbau des Elektronenspektrometers. Dieser besteht<br />

aus einem Paar konzentrischer Elektroden zwischen denen ein Spalt ist, sodass Elektronen<br />

sich hindurch bewegen können. Zwischen diesen beiden Elektroden wird eine Potentialdifferenz<br />

∆V angelegt, wobei die äußere Hemisphäre negativer, als die innere ist. Dieser Aufbau<br />

wirkt dann wie ein Energiefilter auf tangential hindurchfliegende Elektronen.<br />

Abbildung 3.13: Der hemisphärische<br />

Analysator. Über die Potentialdifferenz<br />

an den konzentrischen<br />

Elektroden und über<br />

den Kanal des Detektors kann die<br />

kinetische Energie der Photoelektronen<br />

bestimmt werden, die<br />

das Linsensystem passiert haben.

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