26.10.2012 Aufrufe

Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

5.3 Elektrische Eigenschaften 117<br />

(a) εr (b) 250 εr (c) 300 εr<br />

180<br />

160<br />

140<br />

Dicke: 15nm<br />

120<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40 BST-STO<br />

20<br />

0<br />

STO-BST<br />

-1500 -500 500 1500<br />

E [kV/cm]<br />

Abbildung 5.45: Verlauf der Dielektritätszahl εr mit der Feldstärke für drei verschiedene Dicken<br />

der in Abbildung 5.44 beschriebenen Schichtabfolgen.<br />

In Abbildung 5.46 sind die Messwerte als Funktion der Dicke aufgetragen. Ein wesentlicher<br />

Unterschied scheint zwischen den Proben mit der STO-Schicht an der Grundelektrode und<br />

dem BST an der Grundelektrode zu bestehen. Die STO-BST und die STO-BST-STO Proben<br />

dagegen zeigen praktisch gleiche Bulk- und Interfacekapazität. Etwas überraschend liegen die<br />

Werte der BST-STO Proben deutlich darüber. Aufgrund der wenigen Messwerte sind die<br />

Fittgeraden jedoch mit großen Unsicherheiten behaftet. Die Ausgleichsgerade führt je nach<br />

Berücksichtigung des Wertes für die dickste Schicht zu verminderter Bulk- oder Interfacekapazität<br />

(siehe Tabelle 5.3). Da nicht anzunehmen ist, dass sich der Bulk-Bereich verändert hat,<br />

gehen wir von einer fehlerhaften Kapazitätsbestimmung, möglicherweise aufgrund von veränderter<br />

Elektrodenpräparation, bei der 60nm dicken Probe aus. Die Ausgleichsgerade, die<br />

nur durch die unteren beiden Punkte verläuft, liegt fast parallel zu den anderen Geraden und<br />

führt auf diese Art zu der erwarteten verminderten Interfacekapazität. Dieses Verhalten muss<br />

noch genauer untersucht werden.<br />

A/C [m²/F]<br />

40<br />

35<br />

30<br />

25<br />

20<br />

15<br />

10<br />

5<br />

STO<br />

200<br />

Dicke: 30nm<br />

0<br />

0,0 20,0 40,0 60,0 80,0 100,0 120,0 140,0<br />

Dicke [nm]<br />

BST<br />

BST-STO<br />

STO-BST<br />

STO-BST-STO<br />

Abbildung 5.46: Vergleich<br />

der mit dem STO Interface<br />

modifizierten Proben. Zusätzlich<br />

sind gestrichelt die<br />

Ausgleichsgeraden aus 5.42<br />

für reines STO bzw. BST mit<br />

in das Diagramm eingefügt.<br />

Gr.-II / Ti ε (bulk) εi / ti (nm -1 )<br />

BST-STO 0,92 - 0,96 470 ± 100 17 ± 3<br />

STO-BST 0,92 - 0,96 510 ± 50 22 ± 3<br />

STO-BST-STO 0,99 - 1,00 580 ± 50 22 ± 3<br />

Tabelle 5.3: Einfluss der Grenzschicht auf die dielektrischen Eigenschaften<br />

150<br />

100<br />

50<br />

0<br />

BST-STO<br />

STO-BST<br />

STO-BST-STO<br />

-1500 -500 500 1500<br />

E [kV/cm]<br />

250<br />

Dicke: 60nm<br />

200<br />

150<br />

100<br />

50<br />

0<br />

BST-STO<br />

STO-BST<br />

STO-BST-STO<br />

-1500 -500 500 1500<br />

E [kV/cm]

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!