Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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94 5 Schichteigenschaften - 1: (Ba,Sr)TiO3 (BST) auf Platin<br />
Abbildung 5.12 fasst die winkelabhängigen Messungen an einer 1,5nm dicken BST Schicht,<br />
die bei 655°C gewachsen wurde, zusammen. Hier wurden zwei Messungen mit Aufnahmewinkeln<br />
zur Probenoberfläche von 5° bzw. 45° durchgeführt. Je flacher der Winkel zur Probenoberfläche,<br />
desto flacher ist der Schwerpunkt der Tiefenverteilung der zum Signal beitragenden<br />
Elektronen, da der Anteil inelastisch gestreuter Elektronen mit größerer Weglänge<br />
durch das Material zunimmt (siehe Kapitel 3.2.2).<br />
In dieser Abbildung werden die Atomprozente der einzelnen Elemente ins Verhältnis gesetzt<br />
(die Messungen unter flachem Winkel gegenüber der Messung von 45°). Wie erwartet haben<br />
sich die Intensitäten der Elemente Barium, Strontium und Titan verstärkt und natürlich geht<br />
auch die Intensität an Platin zurück, von 16,3 auf 10,2% (rel. Atom %). Die Verhältnisse zwischen<br />
den Elementen ändern sich dagegen im Wesentlichen nicht. Dies bedeutet, dass die<br />
Elementzusammensetzung in Wachstumsrichtung fast unverändert bleibt.<br />
Die Ergebnisse für die Dickenserie (0,3 – 4nm), die bei einer Suszeptortemperatur von 655°C<br />
hergestellt wurden, werden in Abbildung 5.13 zusammengefasst. Dabei sind die gemessenen<br />
relativen Atomanteile gegenüber der nominellen Dicke aufgetragen. Die beobachteten Intensitäten<br />
wurden auf eine 86nm dicke Probe normiert, deren Zusammensetzung durch XRF bestimmt<br />
wurde.<br />
Rel. Atomprozent<br />
Prozentuale Änderung [%]<br />
30<br />
20<br />
10<br />
0<br />
-10<br />
-20<br />
-30<br />
-40<br />
100<br />
80<br />
60<br />
40<br />
20<br />
0<br />
Ba Sr Ti Pt<br />
Pt<br />
Ti<br />
Ba<br />
Sr<br />
0 1 2 3 4 86<br />
Dicke [nm]<br />
Abbildung 5.12: Winkelaufgelöste<br />
XPS Messung. Relative<br />
Intensitätsänderung beim<br />
Übergang von 5° zu einem<br />
Aufnahmewinkel von 45° zur<br />
Probenoberfläche, gemessen<br />
an einer 1,5nm dicken BST<br />
Schicht.<br />
Abbildung 5.13: XPS Messungen dünner BST Schichten. Auf der linken Seite wird die Zusammensetzung<br />
der Elemente gegnüber der Filmdicke dargestellt. Dabei wurden alle Werte<br />
auf die 86 nm dicke BST Schicht mit idealer Zusammensetzung normiert. Die Wachstumstemperatur<br />
dieser Proben lag bei 655°C. Auf der rechten Seite werden die entsprechenden Ba/Sr<br />
und Gr-II/Ti Verhältnisse dargestellt. Die gestrichelten Linien geben die Idealwerte der dicken<br />
Probe an.<br />
Elementverhältnis<br />
3,0<br />
2,5<br />
2,0<br />
1,5<br />
1,0<br />
0,5<br />
0,0<br />
BST<br />
STO<br />
Ba/Sr<br />
Gr-II/Ti<br />
0 1 2 3 4<br />
Dicke [nm]