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Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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94 5 Schichteigenschaften - 1: (Ba,Sr)TiO3 (BST) auf Platin<br />

Abbildung 5.12 fasst die winkelabhängigen Messungen an einer 1,5nm dicken BST Schicht,<br />

die bei 655°C gewachsen wurde, zusammen. Hier wurden zwei Messungen mit Aufnahmewinkeln<br />

zur Probenoberfläche von 5° bzw. 45° durchgeführt. Je flacher der Winkel zur Probenoberfläche,<br />

desto flacher ist der Schwerpunkt der Tiefenverteilung der zum Signal beitragenden<br />

Elektronen, da der Anteil inelastisch gestreuter Elektronen mit größerer Weglänge<br />

durch das Material zunimmt (siehe Kapitel 3.2.2).<br />

In dieser Abbildung werden die Atomprozente der einzelnen Elemente ins Verhältnis gesetzt<br />

(die Messungen unter flachem Winkel gegenüber der Messung von 45°). Wie erwartet haben<br />

sich die Intensitäten der Elemente Barium, Strontium und Titan verstärkt und natürlich geht<br />

auch die Intensität an Platin zurück, von 16,3 auf 10,2% (rel. Atom %). Die Verhältnisse zwischen<br />

den Elementen ändern sich dagegen im Wesentlichen nicht. Dies bedeutet, dass die<br />

Elementzusammensetzung in Wachstumsrichtung fast unverändert bleibt.<br />

Die Ergebnisse für die Dickenserie (0,3 – 4nm), die bei einer Suszeptortemperatur von 655°C<br />

hergestellt wurden, werden in Abbildung 5.13 zusammengefasst. Dabei sind die gemessenen<br />

relativen Atomanteile gegenüber der nominellen Dicke aufgetragen. Die beobachteten Intensitäten<br />

wurden auf eine 86nm dicke Probe normiert, deren Zusammensetzung durch XRF bestimmt<br />

wurde.<br />

Rel. Atomprozent<br />

Prozentuale Änderung [%]<br />

30<br />

20<br />

10<br />

0<br />

-10<br />

-20<br />

-30<br />

-40<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40<br />

20<br />

0<br />

Ba Sr Ti Pt<br />

Pt<br />

Ti<br />

Ba<br />

Sr<br />

0 1 2 3 4 86<br />

Dicke [nm]<br />

Abbildung 5.12: Winkelaufgelöste<br />

XPS Messung. Relative<br />

Intensitätsänderung beim<br />

Übergang von 5° zu einem<br />

Aufnahmewinkel von 45° zur<br />

Probenoberfläche, gemessen<br />

an einer 1,5nm dicken BST<br />

Schicht.<br />

Abbildung 5.13: XPS Messungen dünner BST Schichten. Auf der linken Seite wird die Zusammensetzung<br />

der Elemente gegnüber der Filmdicke dargestellt. Dabei wurden alle Werte<br />

auf die 86 nm dicke BST Schicht mit idealer Zusammensetzung normiert. Die Wachstumstemperatur<br />

dieser Proben lag bei 655°C. Auf der rechten Seite werden die entsprechenden Ba/Sr<br />

und Gr-II/Ti Verhältnisse dargestellt. Die gestrichelten Linien geben die Idealwerte der dicken<br />

Probe an.<br />

Elementverhältnis<br />

3,0<br />

2,5<br />

2,0<br />

1,5<br />

1,0<br />

0,5<br />

0,0<br />

BST<br />

STO<br />

Ba/Sr<br />

Gr-II/Ti<br />

0 1 2 3 4<br />

Dicke [nm]

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