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Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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60 3 Experimentelles<br />

In Abbildung 3.23 auf der linken Seite ist die Spannungserhöhung gegenüber der Messzeit<br />

aufgetragen, dabei wurde alle 100s die Spannung um 0,1V erhöht. Die rechte Seite zeigt das<br />

Verhalten der Stromantwort. Bei der gemessenen Probe handelt es sich um 60nm BST. Deutlich<br />

erkennt man den Relaxationsanteil am Anfang einer jeden Spannungserhöhung. Für die<br />

Auftragung des Leckstromes werden aber nur die letzten 5s vor der nächsten Spannungserhöhung<br />

berücksichtigt. Diese Werte werden gemittelt und gegenüber der Spannung aufgetragen.<br />

Abbildung 3.23: Eine stufenweise Erhöhung der angelegten Spannung (links), führt zu einer<br />

typischen Stromantwort, rechts. Nach Abklingen des Relaxationsstromes kann der Leckstrom<br />

(hier eingezeichnete Kreise) abgelesen werden.<br />

d) Interpretation des Leckstromverhaltens<br />

Bei den MIM Strukturen mit beidseitigen Platinelektroden erwartet man symmetrische, d.h.<br />

von der Stromrichtung unabhängige, Leckstromkurven. Jedoch ergeben sich im Experiment<br />

manchmal deutliche Unterschiede, die mit den unterschiedlichen Wachstumsbedingungen<br />

und der unterschiedlichen thermischen Geschichte erklärt werden können. Da diese Unterschiede<br />

nicht modellmässig erfasst und quantifiziert werden können wird i.A. über beide<br />

Zweige gemittelt. Bei den MIS Strukturen wird das Leckstromverhalten im Akkumulationsbereich<br />

zur Charakterisierung der Schicht herangezogen.<br />

Das Leckstromverhalten von MIM Strukturen mit hoch-ε Dielektrika lässt sich derzeit nicht<br />

durch ein geschlossenes Modell in all seinen Abhängigkeiten, z.b. von elektrischem Feld und<br />

Temperatur, darstellen. Numerische Simulationen erreichen eine teilweise Beschreibung<br />

durch Überlagerung von elektrodenlimitierten und ’bulk-limitierten’ Leitungsmechanismen.<br />

Bei beiden ist die Auftragung der Leckstromkurve gegenüber der Feldstärke sinnvoll, weil<br />

hier die Dickenabhängigkeit herausfällt. In den meisten Fällen wird über einen gewissen Bereich<br />

der Feldstärke ein Verhalten beobachtet das qualitativ einer elektrodenlimitierten Leitfähigkeit<br />

und damit der Schottky Gleichung entspricht [7, 91].<br />

* 2 ⎛ e0<br />

( Φ B − ∆Φ)<br />

⎞<br />

J Schottky = A T ⋅ exp⎜−<br />

⎟ 3.23<br />

⎝ kT ⎠<br />

Mit A * als Richardson Konstante, T als Temperatur, e0 elektrische Ladung, ΦB Barrierenhöhe,<br />

∆Φ die Absenkung der Barriere und k die Boltzmann Konstante. Die Barrierenabsenkung ∆Φ<br />

ist dabei gegeben durch:<br />

e0E<br />

∆Φ =<br />

3.24<br />

4 ε<br />

πε 0<br />

r

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