Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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60 3 Experimentelles<br />
In Abbildung 3.23 auf der linken Seite ist die Spannungserhöhung gegenüber der Messzeit<br />
aufgetragen, dabei wurde alle 100s die Spannung um 0,1V erhöht. Die rechte Seite zeigt das<br />
Verhalten der Stromantwort. Bei der gemessenen Probe handelt es sich um 60nm BST. Deutlich<br />
erkennt man den Relaxationsanteil am Anfang einer jeden Spannungserhöhung. Für die<br />
Auftragung des Leckstromes werden aber nur die letzten 5s vor der nächsten Spannungserhöhung<br />
berücksichtigt. Diese Werte werden gemittelt und gegenüber der Spannung aufgetragen.<br />
Abbildung 3.23: Eine stufenweise Erhöhung der angelegten Spannung (links), führt zu einer<br />
typischen Stromantwort, rechts. Nach Abklingen des Relaxationsstromes kann der Leckstrom<br />
(hier eingezeichnete Kreise) abgelesen werden.<br />
d) Interpretation des Leckstromverhaltens<br />
Bei den MIM Strukturen mit beidseitigen Platinelektroden erwartet man symmetrische, d.h.<br />
von der Stromrichtung unabhängige, Leckstromkurven. Jedoch ergeben sich im Experiment<br />
manchmal deutliche Unterschiede, die mit den unterschiedlichen Wachstumsbedingungen<br />
und der unterschiedlichen thermischen Geschichte erklärt werden können. Da diese Unterschiede<br />
nicht modellmässig erfasst und quantifiziert werden können wird i.A. über beide<br />
Zweige gemittelt. Bei den MIS Strukturen wird das Leckstromverhalten im Akkumulationsbereich<br />
zur Charakterisierung der Schicht herangezogen.<br />
Das Leckstromverhalten von MIM Strukturen mit hoch-ε Dielektrika lässt sich derzeit nicht<br />
durch ein geschlossenes Modell in all seinen Abhängigkeiten, z.b. von elektrischem Feld und<br />
Temperatur, darstellen. Numerische Simulationen erreichen eine teilweise Beschreibung<br />
durch Überlagerung von elektrodenlimitierten und ’bulk-limitierten’ Leitungsmechanismen.<br />
Bei beiden ist die Auftragung der Leckstromkurve gegenüber der Feldstärke sinnvoll, weil<br />
hier die Dickenabhängigkeit herausfällt. In den meisten Fällen wird über einen gewissen Bereich<br />
der Feldstärke ein Verhalten beobachtet das qualitativ einer elektrodenlimitierten Leitfähigkeit<br />
und damit der Schottky Gleichung entspricht [7, 91].<br />
* 2 ⎛ e0<br />
( Φ B − ∆Φ)<br />
⎞<br />
J Schottky = A T ⋅ exp⎜−<br />
⎟ 3.23<br />
⎝ kT ⎠<br />
Mit A * als Richardson Konstante, T als Temperatur, e0 elektrische Ladung, ΦB Barrierenhöhe,<br />
∆Φ die Absenkung der Barriere und k die Boltzmann Konstante. Die Barrierenabsenkung ∆Φ<br />
ist dabei gegeben durch:<br />
e0E<br />
∆Φ =<br />
3.24<br />
4 ε<br />
πε 0<br />
r