Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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80 4 Ergebnisse der Prozessentwicklung<br />
b) Prozesstemperatur<br />
Die Stöchiometrie der Schicht zeigt eine deutliche Abhängigkeit von der Prozesstemperatur,<br />
siehe Abbildung 4.19. Trotz der exakten Stöchiometrie im Prekursormolekül ist die Einbaueffizienz<br />
von Strontium bei tiefen Temperaturen deutlich größer verglichen mit Tantal. Die gewünschte<br />
Stöchiometrie wird bei gegebenem Druck von 6mbar bei einer Temperatur zwischen<br />
460 – 470°C erreicht. Abb. 4.19 b) zeigt einen ähnlichen Verlauf bei einen Prozessdruck<br />
von 2mbar mit einer geringen Verschiebung der Abscheidetemperatur für den stöchiometrischen<br />
Film.<br />
(a) 6mbar<br />
2,50<br />
Platin<br />
2,00<br />
Abbildung 4.19: Zusammen-<br />
Silizium<br />
1,50<br />
hang zwischen der Stöchiometrie<br />
und der Prozesstem-<br />
1,00<br />
peratur.<br />
0,50<br />
a) Bei 6mbar<br />
0,00<br />
350 400 450 500<br />
Temperatur [°C]<br />
Sr/Ta<br />
Sr/Ta<br />
2,50<br />
2,00<br />
1,50<br />
1,00<br />
0,50<br />
0,00<br />
Platin<br />
Silizium<br />
400 450 500 550<br />
Temperatur [°C]<br />
b) Bei 2mbar<br />
In der Auftragung der Effizienz, kann das Temperaturverhalten für die einzelnen Elemente<br />
getrennt betrachtet werden. Die optimale Zusammensetzung wird dann erreicht, wenn die<br />
Effizienz beider Metalle gleichgroß ist. In diesen Fall stimmt die Prekursorstöchiometrie mit<br />
der Filmstöchiometrie überein. Abbildung 4.20 a) zeigt die Temperaturabhängigkeit der Elementeffizienz<br />
bei einem Prozessdruck von 6mbar und Abb. 4.20 b) bei 2mbar. Der Überschneidungspunkt<br />
wandert von etwa 470 nach 500°C..<br />
Effizienz [%]<br />
70<br />
60<br />
50<br />
40<br />
30<br />
20<br />
10<br />
0<br />
(b) 2mbar<br />
Sr auf Pt<br />
Ta auf Pt<br />
Sr auf Si<br />
Ta auf Si<br />
350 400 450 500<br />
Temperatur [°C]<br />
Abbildung 4.20: Auftagung der<br />
Effizienz für die Elemente<br />
Strontium und Tantal sowohl<br />
auf Platin, als auch auf<br />
Silizium Substraten gegenüber<br />
der Suszeptortemperatur.<br />
Bei 6mbar