26.10.2012 Aufrufe

Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

5.3 Elektrische Eigenschaften 113<br />

Ergänzend zu Abbildung 5.35 werden in der nachfolgenden Abbildung (5.39) die Leckströme<br />

bei 565°C und 595°C gezeigt. Zudem sind die Schottkydiagramme in Abbildung 5.40 dargestellt.<br />

Dabei zeigt sich eine Tendenz zu größerer Steigung für die bei hoher Temperatur abgeschiedenen<br />

Schichten. Damit sind die bei tiefer Temperatur abgeschiedenen Schichten nur bei<br />

kleinen angelegten Feldern schlechter im Leckstromverhalten. Bei hohen Feldern ergibt sich<br />

kein signifikanter Unterschied. Die für dicke Schichten und niedrigen Felder deutlich höheren<br />

Leckströme lassen sich mit einer aufgrund der höheren Defektdichte erhöhten Bulkleitfähigkeit<br />

erklären.<br />

Gr.-II/Ti=0,97-0,98<br />

T = 565°C<br />

J [A/cm²]<br />

1E-02<br />

1E-04<br />

1E-06<br />

1E-08<br />

1E-10<br />

1E-12<br />

60nm<br />

45nm<br />

30nm<br />

15nm<br />

-1500 -1000 -500 0 500 1000 1500<br />

E [kV/cm]<br />

GII/Ti=0.93-0.94<br />

595°C<br />

J [A/cm²]<br />

1E-02<br />

1E-04<br />

1E-06<br />

1E-08<br />

1E-10<br />

109 nm<br />

55 nm<br />

31 nm<br />

1E-12<br />

-1500 -1000 -500 0<br />

20 nm<br />

500 1000 1500<br />

E [KV/cm]<br />

Abbildung 5.39: Dickenabhängigkeit des Leckstromes der bei 565°C und bei 595°C abgeschiedenen,<br />

leicht titanreichen Schichten.<br />

Die Stöchiometrieabhängigkeit ist für die bei 595°C abgeschiedenen Schichten in Abbildung<br />

5.40b dargestellt. Auch hier ergibt sich ein komplexes Verhalten: Die titanreichen Schichten<br />

haben bei kleinen Feldern deutlich kleinere Leckströme, jedoch haben sie im Bereich niedriger<br />

Felder auch eine größere Steigung. Bei hohen Feldern dreht sich somit diese Tendenz um.<br />

Damit ergibt sich in Übereinstimmung mit den Literaturdaten [1, 134], in denen für 60nm<br />

dicke Schichten bei einer niedrigen angelegten Spannung von 1,6V eine Verringerung der<br />

Leckströme mit zunehmendem Titangehalt festgestellt wurde. Wie Abbildung 5.40b zeigt gilt<br />

diese oft zitierte Tendenz jedoch nur unter den angegebenen eng begrenzten Bedingungen.<br />

Jm [A/cm²]<br />

1E-02<br />

1E-04<br />

1E-06<br />

1E-08<br />

1E-10<br />

565°C: offen<br />

595°C: gefüllt<br />

45nm<br />

55nm<br />

~30nm<br />

15nm<br />

20nm<br />

0 10 20 30 40 50<br />

Wurzel(E [kV/cm])<br />

Jm [A/cm²]<br />

1E-02<br />

1E-04<br />

1E-06<br />

1E-08<br />

1E-10<br />

Ti rich: gefüllt<br />

Gr-II reich: offen<br />

~110nm<br />

~30nm<br />

20nm<br />

14nm<br />

0 10 20 30 40 50<br />

Wurzel(E [kV/cm])<br />

Abbildung 5.40: Schottkydarstellung für verschieden dicke Proben. Links titanreiche Proben,<br />

die bei 565°C und 595°C gewachsen wurden. Die Daten der bei 655°C abgeschiedenen<br />

Schichten aus Abbildung 5.35b werden durch Linien dargestellt und sind außer im Fall der<br />

71nm dicken Schicht durch die entsprechenden Kurven der bei 595°C abgeschiedenen<br />

Schichten verdeckt. Auf der rechten Seite werden die bei 595°C gewachsenen Proben mit<br />

leicht Titan- und leicht Gr.-II reicher Zusammensetzung verglichen.

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!