Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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5.3 Elektrische Eigenschaften 113<br />
Ergänzend zu Abbildung 5.35 werden in der nachfolgenden Abbildung (5.39) die Leckströme<br />
bei 565°C und 595°C gezeigt. Zudem sind die Schottkydiagramme in Abbildung 5.40 dargestellt.<br />
Dabei zeigt sich eine Tendenz zu größerer Steigung für die bei hoher Temperatur abgeschiedenen<br />
Schichten. Damit sind die bei tiefer Temperatur abgeschiedenen Schichten nur bei<br />
kleinen angelegten Feldern schlechter im Leckstromverhalten. Bei hohen Feldern ergibt sich<br />
kein signifikanter Unterschied. Die für dicke Schichten und niedrigen Felder deutlich höheren<br />
Leckströme lassen sich mit einer aufgrund der höheren Defektdichte erhöhten Bulkleitfähigkeit<br />
erklären.<br />
Gr.-II/Ti=0,97-0,98<br />
T = 565°C<br />
J [A/cm²]<br />
1E-02<br />
1E-04<br />
1E-06<br />
1E-08<br />
1E-10<br />
1E-12<br />
60nm<br />
45nm<br />
30nm<br />
15nm<br />
-1500 -1000 -500 0 500 1000 1500<br />
E [kV/cm]<br />
GII/Ti=0.93-0.94<br />
595°C<br />
J [A/cm²]<br />
1E-02<br />
1E-04<br />
1E-06<br />
1E-08<br />
1E-10<br />
109 nm<br />
55 nm<br />
31 nm<br />
1E-12<br />
-1500 -1000 -500 0<br />
20 nm<br />
500 1000 1500<br />
E [KV/cm]<br />
Abbildung 5.39: Dickenabhängigkeit des Leckstromes der bei 565°C und bei 595°C abgeschiedenen,<br />
leicht titanreichen Schichten.<br />
Die Stöchiometrieabhängigkeit ist für die bei 595°C abgeschiedenen Schichten in Abbildung<br />
5.40b dargestellt. Auch hier ergibt sich ein komplexes Verhalten: Die titanreichen Schichten<br />
haben bei kleinen Feldern deutlich kleinere Leckströme, jedoch haben sie im Bereich niedriger<br />
Felder auch eine größere Steigung. Bei hohen Feldern dreht sich somit diese Tendenz um.<br />
Damit ergibt sich in Übereinstimmung mit den Literaturdaten [1, 134], in denen für 60nm<br />
dicke Schichten bei einer niedrigen angelegten Spannung von 1,6V eine Verringerung der<br />
Leckströme mit zunehmendem Titangehalt festgestellt wurde. Wie Abbildung 5.40b zeigt gilt<br />
diese oft zitierte Tendenz jedoch nur unter den angegebenen eng begrenzten Bedingungen.<br />
Jm [A/cm²]<br />
1E-02<br />
1E-04<br />
1E-06<br />
1E-08<br />
1E-10<br />
565°C: offen<br />
595°C: gefüllt<br />
45nm<br />
55nm<br />
~30nm<br />
15nm<br />
20nm<br />
0 10 20 30 40 50<br />
Wurzel(E [kV/cm])<br />
Jm [A/cm²]<br />
1E-02<br />
1E-04<br />
1E-06<br />
1E-08<br />
1E-10<br />
Ti rich: gefüllt<br />
Gr-II reich: offen<br />
~110nm<br />
~30nm<br />
20nm<br />
14nm<br />
0 10 20 30 40 50<br />
Wurzel(E [kV/cm])<br />
Abbildung 5.40: Schottkydarstellung für verschieden dicke Proben. Links titanreiche Proben,<br />
die bei 565°C und 595°C gewachsen wurden. Die Daten der bei 655°C abgeschiedenen<br />
Schichten aus Abbildung 5.35b werden durch Linien dargestellt und sind außer im Fall der<br />
71nm dicken Schicht durch die entsprechenden Kurven der bei 595°C abgeschiedenen<br />
Schichten verdeckt. Auf der rechten Seite werden die bei 595°C gewachsenen Proben mit<br />
leicht Titan- und leicht Gr.-II reicher Zusammensetzung verglichen.