Metallorganisch chemische ... - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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3.1 MOCVD 39<br />
und Suszeptor. Davon ausgehend bewegen sich die Prekursor- und Lösungsmittelgase in radialer<br />
und horizontaler Richtung von der Düse bis in den Kollektorring. Die Reaktionsgase, wie<br />
z.b. Sauerstoff oder N2O werden unterhalb der Düse zugeführt. Durch den separaten Einlass<br />
werden Vorreaktionen vermindert. Im Optimalfall verarmt die Metallkonzentration in der<br />
Gasphase linear und ist am Rand des Suszeptors fast null, so dass nur noch die Reaktionsprodukte<br />
den Kollektor erreichen.<br />
Vom Kollektor aus werden alle Gase abgesaugt. Nicht reagierte Prekursorreste und andere<br />
Partikel werden von einer Kühlfalle zum Schutz der Pumpen und der Umwelt aufgefangen.<br />
Bei den Pumpen handelt es sich um eine Kombination aus Drehschieber- und Wälzkolbenpumpe.<br />
Letztere ist notwendig, um die großen Gasmengen zu bewältigen, die gebraucht werden,<br />
um homogene Schichten über der gesamten Fläche des Suszeptors zu erhalten.<br />
3.1.4 Prozesskontrolle<br />
Ergänzend zum vorangegangenen Kapitel werden hier die Besonderheiten einzelner Hardwarekomponenten<br />
des AIX-2600G3 Reaktors sowie die Randbedingungen für die Einstellung<br />
der Prozessparameter genauer betrachtet. Die zum Teil sehr spezifischen Beschreibungen resultieren<br />
aus der Prozess- und Hardwareentwicklung der letzten Jahre.<br />
a) Suszeptor<br />
Nach ersten Tests wurde ein neuer Suszeptor eingebaut. Der Vorgänger bestand aus zwei<br />
Komponenten, die durch Schrauben miteinander verbunden waren und hatte dadurch eine<br />
deutlich verminderte Wärmeleitfähigkeit. Bei konstanter Suszeptortemperatur von 700°C<br />
wurde durch diese Maßnahme eine Erhöhung der Wafertemperatur um ca. 50°C beobachtet.<br />
Auch im Fall der Zugscheibe, die den Suszeptor fixiert gab es zwei Variationen, eine aus<br />
Graphit und eine weitere aus Quarzglas. Letztere wurde hergestellt, um die thermische Ankopplung<br />
an die darüber befindliche Düse zu reduzieren, da bei Temperaturen oberhalb von<br />
600°C Vorreaktionen an der Quarzglasdüse unvermeidlich sind. Da diese Glaszugscheibe<br />
sehr bruchempfindlich war, wurde im weiteren Verlauf bei verbesserter Kühlung durch modifizierten<br />
Gasfluss und veränderte Einlassdüse, auf die Graphitscheibe zurückgegriffen.<br />
b) Temperaturmessung<br />
Die Temperaturmessung erfolgt über zwei unabhängige Pyrometer: Ein Pyrometer misst die<br />
Suszeptortemperatur von der Unterseite des Suszeptors, ein weiteres in Draufsicht. Über ersteres<br />
Pyrometer wird die Temperatur geregelt und alle in dieser Arbeit aufgeführten Prozesstemperaturen<br />
beziehen sich auf diesen Wert. Das zweite Pyrometer dagegen misst die Temperatur<br />
auf dem Substrat liefert aber i.A. keine absoluten Werte, da es empfindlich auf die unterschiedliche<br />
Reflexivität der Oberfläche reagiert: z.B. zeigt reines Platin einen anderen Wert,<br />
als beschichtetes Platin. Zudem erfolgt die Messung durch die Glasscheibe (Ceiling), die auch<br />
je nach Prozessbedingung und Anzahl der Prozesse eine Schwärzung erfährt. So wurde von<br />
der 90sten bis zum 125sten Abscheidung mit einer Ceiling eine mittlere Pyrometertemperatur<br />
von 580,6° ± 3,4°C gefunden und in den nachfolgenden 12 Abscheidungen mit einer neuen