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ETTC'2003 - SEE

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Figure 1 : Actions de qualification durcissement au sein du cycle en V du processus de<br />

développement<br />

ANALYSES<br />

Etudes technico opérationnelles<br />

Simulations Comportementales<br />

Architecture préliminaire<br />

Spécifications de besoin<br />

préliminaire<br />

Principe de qualification et<br />

Matrices de qualification (IADT)<br />

DEFINITION<br />

Prototypage virtuel<br />

Prototypage architecture<br />

Spécification de besoin figée<br />

Spécification de réalisation<br />

Plan de validation/qualification<br />

DJD<br />

DEVELOPPEMENT / REALISATION<br />

Architecture cible<br />

Contrôles et essais partiels<br />

DEVELOPPEMENT<br />

/ INTEGRATION<br />

Tests partiels<br />

Contrôles et essais<br />

d’intégration<br />

Plan de qualification<br />

final<br />

Figure 2 : Exemple d’analyses de durcissement superposées au cycle en V de<br />

développement (cas d’un système aéronautique).<br />

Paramètres d ’entrée / sortie<br />

Couplage<br />

Analyse de défaillance<br />

Définition des paramètres<br />

• Architecture fonctionnelle<br />

• Agression hyperfréquence<br />

Champ EM<br />

Externe / incident<br />

Ambiances EM<br />

internes station<br />

Ambiances<br />

EM internes Eqpts<br />

Couplages<br />

Torons câbles<br />

Couplages<br />

Fils / pistes<br />

Couplages<br />

Antennes<br />

Filtres et<br />

protections<br />

Définition des paramètres<br />

• Nature des équipements<br />

• Mission<br />

Modes de<br />

défaillance<br />

Eqpts<br />

Vulnérabilité des<br />

composants<br />

VALIDATION<br />

/ QUALIFICATION<br />

Tests globaux<br />

Dossiers<br />

DJD mis à jour<br />

Événements/ pannes redoutés<br />

criticité des équipements<br />

Probabilités de<br />

Dysfonctionnement<br />

des équipements<br />

Types de<br />

Pannes induites<br />

Modèle d’équipement<br />

Conséquences<br />

système<br />

Conséquences<br />

opérationnelles<br />

4

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