ETTC'2003 - SEE

5 Conclusion / futurs développements
Afin de pouvoir prendre en compte l’ensemble de la
contrainte électromagnétique, l’évolution des standards
CEM sur composants dans le cadre de la CEI doit être
poursuivie (augmentation des gammes de fréquences,
harmonisation des standards ESD, prise en compte de
l’immunité aux transitoires de commutations...).
En interne Siemens VDO, des indicateurs de conception
basés sur le taux de réussite des qualifications CEM par
type d’essai ont été mis en place et permettront de
quantifier les impacts de cette démarche industrielle.
La base de données composants et la matrice de choix de
conception sont régulièrement mises à jour et devront
prendre en compte les évolutions technologiques des
composants (packages hautes densités...) et des substrats
associés.
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Reférences :
[1] Avancement des travaux de normalisation
IEC47A/WG9: Méthodes de mesures CEM sur circuits
intégrés / Christian MAROT / CEM Compo 2000
[2] Intégration des standards IEC lors de la conception
d'équipements électroniques pour l'automobile / Christian
MAROT / CEM Compo 2000
[3] 47A/632e/FDIS : IEC 61967 part1: Integrated circuits,
measurement of electromagnetic emissions, 150kHz to
1GHz: general and definitions.
[4] 47A/568/CD : IEC 61967 part2: Integrated circuits,
measurement of electromagnetic emissions, 150kHz to
1GHz, TEM cell method.
[5] 47A/568/TR : IEC 61967 part3: Integrated circuits,
measurement of electromagnetic emissions, 150kHz to
1GHz, Loop probe method.
[6] 47A/636e/FDIS : IEC 61967 part4: Integrated circuits,
measurement of electromagnetic emissions, 150kHz to
1GHz: measurement of conducted emissions,
1Ω/150Ω direct coupling method.
[7] 47A/61967-5/FDIS : IEC61967 part5: Integrated
circuits, measurement of electromagnetic emissions,
150kHz to 1GHz: workbench Faraday cage method.
[8] 47A/645F/FDIS : IEC 61967 part6: Integrated circuits,
measurement of electromagnetic emissions, 150kHz to
1GHz: measurement of conducted emissions, magnetic
probe method.
[9] 47A/618/CD: IEC 62132 part1 : Integrated circuits,
measurement of electromagnetic immunity, 150kHz to
1GHz: general and definitions.
[10] 47A/658e/CD : IEC 62132 part2 : Direct power
injection to measure the immunity against conducted RF
disturbances of integrated circuits up to to 1GHz
[11] 47A/631/CD : IEC 62132 part3 : Direct conducted of
integrated circuits up to to 1GHz.
[12] 47A/524a/CD : IEC 62132 part4 : integrated circuits,
electromagnetic immunity test to narrowband disturbances
by Bulk Current Injection (BCI), 1MHz –400MHz.