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ETTC'2003 - SEE

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2.1.6 Emissions standards 61967 part6 : radiated<br />

emissions in magnetic probe [8]<br />

Ce standard définit une méthode pour mesurer la<br />

composante magnétique en champ proche du rayonnement<br />

électromagnétique émis par le composant. La mesure<br />

utilise une sonde sérigraphiée sur un circuit imprimé 3<br />

couches (figure 7).<br />

2<br />

1, 3<br />

Couche 1 2 3<br />

bottom layer<br />

(layer n)<br />

magnetic probe<br />

top layer<br />

(layer 1)<br />

IC<br />

ground layer for microstrip<br />

(layer n-1)<br />

standardized IC test board<br />

(PCB)<br />

molded fixing block of<br />

magnetic probe<br />

measurement<br />

microstrip line<br />

Figure7 : sonde magnétique<br />

2.2 Mesures de la susceptibilité<br />

space between the<br />

microstrip line and<br />

magnetic probe tip:<br />

1,0 ± 0,1 mm<br />

Le projet de ce standard est référencé sous le numéro<br />

62132. Il est composé de 4 parties :<br />

part1 general and definitions CD 618<br />

part2 direct RF injection CD 658e<br />

part3 conducted susceptibility CD 631<br />

part4 bulk current injection CD524a<br />

2.2.1 Susceptibility standard 62132 part1 : general and<br />

définitions[9]<br />

Le standard 62132 décrit la mesure de la susceptibilité<br />

électromagnétique d’un circuit intégré. En particulier la<br />

partie 1 « general and definitions » décrit les paramètres<br />

communs de test et indique pour chaque test les conditions<br />

de la mesure.<br />

2.2.2 Susceptibility standard 62132 part2 : direct RF<br />

injection [10]<br />

Cette proposition de standard définit une méthode pour<br />

mesurer la susceptibilité par couplage capacitif sur un<br />

composant. La méthode utilise un circuit imprimé test sur<br />

lequel est monté le circuit intégré sous test.<br />

La mesure est réalisée à l’aide de capacité de couplage<br />

appelée « DC block » entre 10 kHz et 1 GHz (figure 8).<br />

C2<br />

Page 4 / 7<br />

50 Ohm coax<br />

Amplifier<br />

RF<br />

generator<br />

BUS<br />

DC<br />

supply<br />

directivity<br />

coupler<br />

Pfor Prev<br />

RF Power<br />

meters<br />

=<br />

DC<br />

Block<br />

optional:<br />

contro. PC<br />

figure 8 : coupleur capacitif<br />

decoupling<br />

network<br />

DUT<br />

DUT<br />

monitor<br />

2.2.3 Susceptibility standard 62132 part3 : conducted<br />

susceptibility [11]<br />

Ce standard définit une méthode pour mesurer l’immunité<br />

aux perturbations électromagnétiques de mode commun<br />

conduites par un câble. La méthode utilise un circuit<br />

imprimé test sur lequel est monté le circuit intégré sous<br />

test, l’ensemble étant enfermé dans une boîte métallique<br />

appelée « Working Bench Faraday Cage » (WBFC).<br />

Les câbles connectés à la puce présentent une impédance<br />

de mode commun qui se situe autour de 150Ω.<br />

Le dispositif permet de faire des mesures de perturbations<br />

conduites en mode commun sur le composant entre 150<br />

kHz et 1 GHz. (figure9).<br />

RF<br />

s ource<br />

~<br />

T1 S1<br />

22 oh m<br />

50 oh m<br />

Po wer<br />

amplifier<br />

Signal<br />

s ource<br />

RF ge ner ator)*<br />

Matching<br />

network<br />

Ferrite**)<br />

100 ohm<br />

100 ohm<br />

Work Be nch Fa rada y C a ge (WBFC )<br />

T2<br />

~<br />

F<br />

F F<br />

Ferrite**)<br />

100 ohm<br />

Input Supply Ou tput<br />

PCB under test (PUT)<br />

50 ohm)*<br />

Supply<br />

source<br />

dc<br />

50 ohm)*<br />

Time dom ain<br />

analyser (TDA)<br />

Fe rrite**)<br />

*) s hal l b e inte rc hange d a t ea ch por t<br />

**) ferrite impedance >>150 ohm<br />

figure 9 : mesure de susceptibilité avec le banc WBFC

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