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ETTC'2003 - SEE

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Capacité :<br />

- en traction-compression : +/- 300 kN<br />

- course du vérin : 250 mm<br />

- vitesse maximale de déplacement du<br />

vérin : 5.8 mm/s en montée, 8.3 mm/s en<br />

descente.<br />

Température :<br />

Essais à température ambiante,<br />

possibilité d'adapter un système de<br />

maintien en température.<br />

Géométrie des éprouvettes :<br />

Différents dispositifs d'amarrage<br />

permettent de réaliser des essais sur des<br />

éprouvettes ou sur des éléments de<br />

construction.<br />

Exemples :<br />

- traction-compression sur éprouvette<br />

cylindriques ou parallélépipédiques,<br />

- traction-compression sur fil ou sur<br />

élément de structure,<br />

- torsion ou flexion d'éprouvette ou de<br />

plaque.<br />

Longueur maxi sous charge 970 mm.<br />

Pulsateur WOLPERT<br />

Chargements possibles :<br />

Traction-compression (ou torsion, ou<br />

flexion avec des montages mécaniques<br />

spécifiques) :<br />

- essais monotones (rampes et paliers):<br />

définis par une consigne de départ, une<br />

consigne d'arrivée et une durée.<br />

- essais cycliques à fréquence inférieure<br />

à 5 Hz (selon l'amplitude du déplacement<br />

du vérin) : définis par leur durée (nombre<br />

de cycles) et leur fréquence, l'amplitude<br />

et la valeur moyenne du paramètre<br />

asservi.<br />

Plusieurs forme de chargements<br />

cycliques sont possibles : sinus, triangle,<br />

trapèze.<br />

Arrêt de l'essai :<br />

- nombre de cycles.<br />

- dépassement de la consigne du<br />

paramètre contrôlé (détection de la<br />

variation de raideur de la pièce en cours<br />

d'essai).<br />

Paramètres mesurés et<br />

contrôlés:<br />

- mesure de la force par capteur<br />

inductif (+/- 300 KN).<br />

- mesure du déplacement par<br />

capteur inductif (de +/- 5 mm à +/-<br />

125 mm).<br />

- mesure des déformations :<br />

capteur inductif d'extensométrie<br />

(allongement maximum +/- 1 mm)<br />

ou instrumentation par jauges<br />

résistives.<br />

ETTC2003 European Test and Telemetry Conference

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