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ETTC'2003 - SEE

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- Limites pour l’immunité DPI (extrait de la spécification<br />

Siemens VDO) :<br />

- Limites pour les émissions TEM (extrait de la<br />

spécification Siemens VDO) :<br />

- Limites pour les émissions conduites (extrait de la<br />

spécification Siemens VDO) :<br />

Page 6 / 7<br />

4 Matrice de choix de conception<br />

Au vu des résultats CEM obtenus sur les composants,<br />

l’équipe CEM tient à jour une matrice de choix de<br />

conception des équipements électroniques :<br />

Pour chaque micro-controleur utilisé, les choix de<br />

conception sont définis en fonction des niveaux de<br />

spécification de l’équipement (Cahier des charges du<br />

constructeur automobile). Les informations concernent la<br />

schématique (filtrage des entrées sorties du coeur logique,<br />

découplages, circuits d’horloges...), le routage (plan de<br />

masse uniforme, masse distribuée, blindages de pistes<br />

sensibles...) et la mécanique (écrans, blindages locaux...).<br />

µC ref A<br />

(niveau<br />

émissions<br />

faible)<br />

µC ref B<br />

(niveau<br />

émissions<br />

moyen)<br />

µC ref C<br />

(niveau<br />

émissions<br />

élevé)<br />

Recommandations schéma et PCB (émissions rayonnées)<br />

Limite #1 Limite #2 Limite #3<br />

Sévérité minimum Sévérité maximum<br />

Masse<br />

distribuée<br />

Masse<br />

distribuée &<br />

filtrage des<br />

I/Os<br />

Plan de masse<br />

uniforme<br />

Masse<br />

distribuée &<br />

filtrage des<br />

I/Os<br />

Plan de masse<br />

uniforme<br />

Plan de masse<br />

uniforme &<br />

filtrage des<br />

I/Os<br />

Plan de masse<br />

uniforme<br />

Plan de masse<br />

uniforme &<br />

filtrage des<br />

I/Os<br />

Plan de masse<br />

uniforme &<br />

filtrage des<br />

I/Os &<br />

blindage local<br />

Cette matrice mise à disposition des concepteurs<br />

électroniciens sous intranet permet d’optimiser les calculs<br />

des couts des produits dans les phases d’avant projets.

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