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ETTC'2003 - SEE

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2.1.2 Emission standard 61967 part2 radiated emissions in<br />

TEM [4]<br />

Ce standard définit une méthode pour mesurer les<br />

perturbations électromagnétiques rayonnées par un<br />

composant. La méthode utilise un circuit imprimé test sur<br />

lequel est monté le circuit intégré sous test. Ce circuit<br />

imprimé est placé dans une cellule TEM permettant de<br />

mesurer les perturbations émises par le composant sur un<br />

récepteur de mesure ou un analyseur de spectre (figure 3).<br />

Les petites dimensions de la TEM (150x300x90) autorisent<br />

des mesures jusqu'à 1GHz.<br />

PCB<br />

Receiver<br />

Chip under<br />

test<br />

figure 3 : Perturbations émises en cellule TEM<br />

2.1.3 Emission standard 61967 part3 radiated emissions in<br />

magnetic loop[5]<br />

Ce standard définit une méthode pour mesurer la<br />

composante magnétique en champ proche du rayonnement<br />

électromagnétique émis par le composant. La mesure<br />

utilise une sonde de 20mm de côté sur une bande de<br />

fréquence de 150kHz à 1GHz. (figure 4).<br />

2 Cm<br />

2 Cm<br />

Shielding<br />

interruption<br />

cable coaxial l<br />

semi-rigide<br />

50 Ω<br />

7 Cm<br />

magnetic loop<br />

component<br />

under test<br />

associated<br />

components<br />

figure 4 : mesure de champ magnétique<br />

2.1.4 Emission standard 61967 part4 : differential<br />

conducted emissions [6]<br />

Ce standard définit une méthode pour mesurer les<br />

perturbations électromagnétiques conduites par un<br />

composant. La méthode utilise un circuit imprimé test sur<br />

lequel est monté le circuit intégré sous test . Deux types de<br />

mesures de perturbations électromagnétiques conduites<br />

sont proposées, l’une sur le fil de masse à travers une<br />

impédance de 1 ohm l’autre sur les entrées/sorties du<br />

composant sur une charge 150 ohms (figure 5). Ces<br />

mesures sont réalisées entre 150kHz et 1GHz.<br />

Page 3 / 7<br />

C3<br />

Q<br />

C2<br />

IC<br />

IC-GND<br />

RF-<br />

Probe<br />

GND Vdd<br />

C1<br />

C5<br />

I/O<br />

0V +5V<br />

Power supply<br />

Z =150<br />

150Ω method<br />

R1**<br />

impedance<br />

matching network<br />

120<br />

R3<br />

6,8n<br />

C4<br />

1Ω method<br />

GND<br />

51<br />

Z L =50<br />

RF<br />

measuring<br />

equipment<br />

** pull up / pull down may be required depending on application<br />

figure 5 : perturbations conduites sur la masse et sur les<br />

entrées/sorties.<br />

2.1.5 Emission standard 61967 part5 common mode<br />

conducted emissions [7]<br />

Ce standard définit une méthode pour mesurer les<br />

perturbations électromagnétiques conduites par un câble<br />

connecté sur un composant. La méthode utilise un circuit<br />

imprimé test sur lequel est monté le circuit intégré sous<br />

test , l’ensemble étant enfermé dans une boîte métallique<br />

appelée « Working Bench Faraday Cage » (WBFC) .<br />

Les câbles connectés au circuit imprimé présentent une<br />

impédance de mode commun qui se situe autour de 150Ω<br />

(figure 6).<br />

Le dispositif permet de faire des mesures de perturbations<br />

conduites en mode commun sur le composant entre 150<br />

kHz et 1 GHz.<br />

Device<br />

control<br />

Filter<br />

Test receiver<br />

150 Ω<br />

faraday room<br />

I/O<br />

Component<br />

PCB<br />

figure 6 : mesure de perturbations à l’aide du banc WBFC

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