ETTC'2003 - SEE

2 Etat de l’art des standards de mesure
CEM pour Circuits Integrés
Dans le cadre de la CEI et en particulier dans le Technical
Committee TC 47 travaillant sur les composants semiconducteurs,
le groupe de travail SC 47A WG9, créé en
octobre 97, élabore des standards pour des méthodes de
mesures de compatibilité électromagnétique sur les circuits
intégrés. L’objectif du groupe de travail est de préparer des
normes internationales pour tester et mesurer la
compatibilité électromagnétique des circuits intégrés.
Différents acteurs du circuit intégré contribuent aux travaux
du SC 47A WG9. Parmi ces acteurs on trouve , d’une part
les concepteurs de circuits intégrés, tels NEC, Hitachi,
Philips, Texas Instrument, Motorola, Infineon , d’autre part
les utilisateurs de circuits intégrés comme Bosch,
SiemensVDO, VALEO, AIRBUS et enfin les laboratoires de
recherches comme Okayama university du Japon, ITE de
Pologne, Politecnico di Torino d’Italie, ESEO Nantes , INSA
Toulouse
2.1 Mesures des Emissions
Le projet de ce standard est référencé sous le numero
61967. Il est composé de 6 parties :
part1: general and definitions :FDIS 632e
part2 radiated emission in TEM : CD 61967-2
part3 radiated emission in magnetic loop : TR 61967-3
part4 differential conducted emission : FDIS 636e
part5 common mode conducted emission :FDIS 61967-5
part6 radiated emission in magnetic probe : FDIS 645f
2.1.1 Emission standard 61967 part1 general and
definitions [3]
La partie 1 « general and definitions » décrit les
paramètres communs de test et indique pour chaque test
conduit ou rayonné les conditions de la mesure.
Une table permet de choisir la méthode en fonction de
l’application (Figure1)
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ITEM
Measured
Emission Type
In IC
Proposed Frequency
Range
Test Board for:
- comparison of ICs
- evaluation in
application
Reproducing
Measurements
Operator Dependent
Single Pin voltage/
current Measurable
Comparison of IC
Versions – In same
package
IC emission
source/path analysis
- variation of packaging
- on-chip decoupling
- multiple pin power
supply
- I/O signal conditioning
- optimised location of
pins
IEC 61967-2 IEC 61967-4 IEC 61967-5
TEM Cell 1/150 Ohm WBFC
E/H field Differential Common-mode
from IC and
commonmode
conducted
conducted
emissions 2
150 kHz to
1000 MHz
mandatory
needed
Emissions 1
150 kHz to
1000 MHz
mandatory
non
restricted 3
150 kHz to
1000 MHz
mandatory
non restricted
IEC 61967-6
Mag. Probe
DUT RF
currents
1 MHz to
1000 MHz
mandatory
non
restricted 4
no no no partly
no yes no yes
yes yes yes yes
yes
yes
partly
partly
partly
possible
yes
yes
yes
partly
yes
yes
yes
yes
yes
possible
yes
yes
partly
yes
yes
IC Qualification yes yes yes yes
figure 1 : Table de choix de methodes
Le standard propose un circuit imprimé de test générique
couvrant la plupart des applications (figure2).
10cm
D
U
T
Ground plane
below DUT
additional components
Figure 2 : Circuit imprimé de test