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2.1.6 Emissions standards 61967 part6 : radiated emissions in magnetic probe [8] Ce standard définit une méthode pour mesurer la composante magnétique en champ proche du rayonnement électromagnétique émis par le composant. La mesure utilise une sonde sérigraphiée sur un circuit imprimé 3 couches (figure 7). 2 1, 3 Couche 1 2 3 bottom layer (layer n) magnetic probe top layer (layer 1) IC ground layer for microstrip (layer n-1) standardized IC test board (PCB) molded fixing block of magnetic probe measurement microstrip line Figure7 : sonde magnétique 2.2 Mesures de la susceptibilité space between the microstrip line and magnetic probe tip: 1,0 ± 0,1 mm Le projet de ce standard est référencé sous le numéro 62132. Il est composé de 4 parties : part1 general and definitions CD 618 part2 direct RF injection CD 658e part3 conducted susceptibility CD 631 part4 bulk current injection CD524a 2.2.1 Susceptibility standard 62132 part1 : general and définitions[9] Le standard 62132 décrit la mesure de la susceptibilité électromagnétique d’un circuit intégré. En particulier la partie 1 « general and definitions » décrit les paramètres communs de test et indique pour chaque test les conditions de la mesure. 2.2.2 Susceptibility standard 62132 part2 : direct RF injection [10] Cette proposition de standard définit une méthode pour mesurer la susceptibilité par couplage capacitif sur un composant. La méthode utilise un circuit imprimé test sur lequel est monté le circuit intégré sous test. La mesure est réalisée à l’aide de capacité de couplage appelée « DC block » entre 10 kHz et 1 GHz (figure 8). C2 Page 4 / 7 50 Ohm coax Amplifier RF generator BUS DC supply directivity coupler Pfor Prev RF Power meters = DC Block optional: contro. PC figure 8 : coupleur capacitif decoupling network DUT DUT monitor 2.2.3 Susceptibility standard 62132 part3 : conducted susceptibility [11] Ce standard définit une méthode pour mesurer l’immunité aux perturbations électromagnétiques de mode commun conduites par un câble. La méthode utilise un circuit imprimé test sur lequel est monté le circuit intégré sous test, l’ensemble étant enfermé dans une boîte métallique appelée « Working Bench Faraday Cage » (WBFC). Les câbles connectés à la puce présentent une impédance de mode commun qui se situe autour de 150Ω. Le dispositif permet de faire des mesures de perturbations conduites en mode commun sur le composant entre 150 kHz et 1 GHz. (figure9). RF s ource ~ T1 S1 22 oh m 50 oh m Po wer amplifier Signal s ource RF ge ner ator)* Matching network Ferrite**) 100 ohm 100 ohm Work Be nch Fa rada y C a ge (WBFC ) T2 ~ F F F Ferrite**) 100 ohm Input Supply Ou tput PCB under test (PUT) 50 ohm)* Supply source dc 50 ohm)* Time dom ain analyser (TDA) Fe rrite**) *) s hal l b e inte rc hange d a t ea ch por t **) ferrite impedance >>150 ohm figure 9 : mesure de susceptibilité avec le banc WBFC
2.2.4 Susceptibility standard 62132 part4 : bulk current injection [12] Cette proposition de standard définit une méthode pour mesurer la susceptibilité d’un composant par couplage par une pince inductive. La méthode utilise un circuit imprimé test sur lequel est monté le circuit intégré sous test. Ce test consiste à injecter par une pince d’injection un courant perturbateur sur la ou les entrées/sorties à agresser (figure10). Lors du test, pour chaque fréquence, le niveau de courant qui génère une susceptibilité du composant est mesuré sur une pince de mesure à partir de critères de susceptibilité (changement d’état logique, courant de polarisation ou de fuite, dérive analogique). Le dispositif permet de faire des mesures de susceptibilité sur le composant de 1 MHz à 400 MHz). current monitoring power injection injection probe load current probe IC under test Idisturbance IC control Figure10 : Boucle d’injection de courant Page 5 / 7 3 Spécification La spécification CEM pour circuits intégrés de Siemens VDO est commune à l’ensemble du groupe électronique automobile. La capitalisation de résultats de mesures sur composants associées à des résultats sur équipements typiques a permis d’élaborer une correspondance de niveaux composants / équipements. La spécification reprend certains standards définis dans la CEI 47A pour couvrir les besoins en émissions et immunité. Cette spécification donne des limites en corrélation avec les besoins des équipements (cahiers des charges des constructeurs automobiles). - Limites pour l’immunité BCI (extrait de la spécification Siemens VDO) :
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SÉANCE D'OUVERTURE / OPENING SESSI
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A l’aube de ce siècle, Airbus s
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Etape 4 : L’avion réel une fois
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C’est, sur l’exemple des essais
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oth the system and the manufacturin
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Such an interdependence between tes
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eference books, but it is as fundam
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BACK MANAGEMENT DES ESSAIS SYSTEME
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BACK ESSAIS D’ENSEMBLE LANCEURS C
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Elle ne doit cependant pas être me
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- le plan de mesures est conséquen
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4.2 MAQUETTE DYNAMIQUE ARIANE 5 Dan
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Les points délicats liés à l’o
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Processus Commande Architecture Int
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BACK 1 Introduction AIRBUS AIRCRAFT
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So, different test tools shall be d
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3.4 Architecture of A380 Simulators
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3.6 A380: Models In order to suppor
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GENERAL PRESENTATION OF JUZZLE GENE
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IMPLEMENTATION AND SIMULATION OF A
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REFERENCES [1] Space engineering, R
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Client Compliance Matrix (par rappo
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POSTE INE A380 Les besoins fonction
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Les principes de l’architecture :
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Les éléments de l’architecture
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BACK Trajectographie temps réel DG
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Deux précisions temps réel sont p
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CONCLUSION La phase d'essais en vol
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RÉSUMÉ: Osiris est une gamme de m
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Exemple de modules banc d'intégrat
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INTRODUCTION Pour définir des proc
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- Ecarts de position en temps réel
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As technology evolves, the boundary
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• Test duration is reduced : for
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AUS Station STA TM/TC Station STS T
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• La Commission de Revue d’Essa
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Certains essais particuliers liés
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TTC’2003 Contient ontient la la m
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TTC’2003 10/06/2003 Qualification
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1 Principes généraux de l’outil
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Vue f(t) 2.3.1 Vues y=f(t) Ces vues
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Maquette aéronef Alarmes Bar-graph
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2.3.5 Vidéo Par ailleurs, si le ma
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3 Concept de structure d’accueil
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SESSION 3 : Capteurs et dispositifs
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BACK THE NEXT GENERATION AIRBORNE D
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hardware down and led to widely acc
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- Perform the exchange in a rigorou
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GLOSSARY AFDX Avionics Full DupleX
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The complete message is recorded by
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The L3 switches allow forwarding da
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Furthermore, the configuration of t
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ISA ISA Interface utilisateur Objet
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CONCLUSION La première version de
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Figure 1: Real-time pen tip display
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La réception s’effectue par une
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f f p IF = R b = 4R b ∆f = 0. 7R
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2.5 FM demodulation Fig.9 I ‘(nT1
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Spacelink System - The solution for
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SPOT Σ ∆ X band feed Data LNA Tr
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Ci après, tableau des spécificati
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Par définition, le taux de polaris
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Quelques calculs d’incertitude so
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3.4 SYNTHESE DES RESULTATS CONCERNA
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MESURE DE CHAMP PAR SYSTEME PORTABL
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BACK STUDY OF 3∆t PASSIVE LOCATIN
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