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etude theorique et experimentale du transport electronique ... - Ief

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Chapitre I : Intro<strong>du</strong>ction au <strong>transport</strong> électronique• Transistor de 10nm : Le champ moyen est de 1000kV/cm (Figure I-11). Les porteurs nevérifient plus I- 17 <strong>et</strong>, s'il y en a, les interactions subies par les porteurs peuvent redistribuerceux-ci dans d’autres vallées que les vallées ∆. L’approximation des bandes paraboliquesdevient alors inexacte. Il faut prendre en compte la structure de bande complète pourreprésenter correctement le <strong>transport</strong> électronique. Pour cela, des tables d’énergie ε (k) <strong>et</strong> dedensité d’états sont pré-calculées. Pour quantifier l’erreur, Bufler <strong>et</strong> ses collaborateurs [25] ontcomparé le courant I ON d’un MOSFET massif de 40nm simulé avec un Monte Carlo avec lacorrection de non parabolicité <strong>et</strong> un Monte Carlo Full-Band. Le Monte Carlo analytique nonparabolique sous-estimant la densité d’état en dessous de 100meV (Figure I-12) la possibilitéqu’un électron subisse une interaction est plus faible (la probabilité d’interaction estproportionnelle à la densité d’état). Par conséquent, le gaz électronique à une vitesse moyenneplus élevée. La simulation donne ainsi un courant I on-NP supérieur d'environ 14%.L’analyse de ces trois dispositifs types a révélé que la validité de l’approximation de la masse effectivedépend fortement des paramètres <strong>du</strong> MOSFET. En fait, tout dépend de ce que l’on cherche à étudier <strong>et</strong><strong>du</strong> degré de précision que l’on recherche. Par exemple, dans les MOSFET long, il y a des phénomèneshautement énergétiques (ionisation par impact) qui nécessitent en principe une description Full-Band.Cependant, on peut décrire de façon simplifiée la structure de bande pour le calcul <strong>du</strong> courant, sanscomm<strong>et</strong>tre d’erreur notable. La notion de masse effective ayant été rappelée, étudions l’autrephénomène physique qui perm<strong>et</strong> ensuite de définir la mobilité : les interactions.Figure I-11 : Distribution électronique dans l’espaceréciproque <strong>du</strong> silicium pour trois champs moyens (10keV/cm100keV/cm <strong>et</strong> 1000keV/cm) [10]Figure I-12 : Comparaison des densités d’état pour lesbandes de con<strong>du</strong>ction <strong>du</strong> silicium dans l’approximationbande parabolique, non parabolique <strong>et</strong> Full-Band [10]3.2. Les interactions dans le silicium à 300KLorsque les électrons se propagent dans le réseau cristallin, ils peuvent subir des interactions avec lesquantum de vibration <strong>du</strong> réseau appelés phonons, les impur<strong>et</strong>és dopantes <strong>et</strong> les défauts de l’interfaceSi-SiO 2 <strong>et</strong> <strong>du</strong> réseau. Lorsque l’électron subit une de ces interactions, la direction <strong>et</strong> l’énergie <strong>du</strong>porteur peuvent changer (Figure I-13). La connaissance des différentes fréquences d’interactions1/τ(ε) <strong>et</strong> les conséquences sur la direction <strong>du</strong> vecteur d’onde <strong>et</strong> l’énergie de l’électron sont doncnécessaires pour comprendre le <strong>transport</strong> électronique <strong>et</strong> déterminer proprement les grandeurs- 18 -

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