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etude theorique et experimentale du transport electronique ... - Ief

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Chapitre II : Les différents niveaux de la modélisationEn intégrant le long <strong>du</strong> canal pour obtenir la mobilité moyenne, on obtient une mobilité dépendant de latension V DS <strong>et</strong> <strong>du</strong> temps de relaxation de l’énergie.µ oµ ENS = II- 491 + γ VOùγENSENSDSµ 0 1= II- 50v Lsat( 1 + 4v τ / L)thLa différence avec II- 45 provient de la pondération par un coefficient dépendant <strong>du</strong> ratio entre la longueurcaractéristique de la relaxation de l’énergie <strong>et</strong> la longueur électrique L (II- 50). Ainsi, lorsque L est trèsgrande devant le libre parcours moyen associé au temps de relaxation de l’énergie, on obtient l’équationII- 45. C<strong>et</strong>te modélisation, assez simple, perm<strong>et</strong> de prendre en compte les eff<strong>et</strong>s non stationnaires dans ledomaine où les approximations de la méthode des moments sont valables. D’autres équipes ontdéveloppés des modèles similaires. Gamiz [80],[81] <strong>et</strong> Chen [82] <strong>et</strong> Vivek [83] ajoutent une composanteau courant évaluée à partir d’une longueur caractéristique phénoménologique qui caractérise le degré dedépendance de la vitesse de l’électron avec la variation <strong>du</strong> champ dans le canal. Ces modélisations sontvalidées par des simulations Monte Carlo. Les modèles développés ci-dessus sont basés sur les équationsdes modèles hydrodynamiques <strong>et</strong> sont donc à ce titre, soumise aux mêmes approximations ; plus cellespropres à la modélisation compacte. Pour preuve, les chercheurs qui ont développé ces modèles ne lesvalident que pour des MOSFETs de longueur supérieure à 50nm. En dessous de c<strong>et</strong>te longueur, l<strong>et</strong>ransport rentre dans un régime quasi-balistique. Il est alors nécessaire d’étudier la modélisation <strong>du</strong><strong>transport</strong> électronique avec de nouvelles grandeurs.w4.4. Approche de Landauer4.4.1. Modèles balistiquesSelon l’ITRS 2004, en 2016 la longueur de grille des transistors est prévue de mesurer 9 nm. A c<strong>et</strong>tedimension le <strong>transport</strong> sera très fortement balistique. Dans c<strong>et</strong>te configuration, où les interactions jouentun rôle négligeable, il est pertinent de calculer les fonctions d’onde des électrons dans la direction <strong>du</strong>confinement <strong>et</strong> de remplacer la résolution des fonctions d’onde dans le sens <strong>du</strong> <strong>transport</strong> par un calcul deflux de porteurs. En eff<strong>et</strong>, dans les dispositifs balistiques, les contacts « injectent » des fonctions d’ondesqui se propagent dans le dispositif. Ce dernier peut alors être représenté par un diagramme énergétiquecomme illustré sur la Figure II- 17 . Les contacts sont très dopés, <strong>et</strong> E C y est uniforme, ils sont supposésproche de l’équilibre thermodynamique. Ainsi, chacun d’entre eux est décrit par son niveau de Fermi <strong>et</strong> lecourant peut être évalué à travers le dispositif avec :− q=Ω∑⎧⎨ f⎩⎛ hk⎝ m⎞⎛ hk⎝ mzz( k) ⎜ ⎟T( k ) − f ( k) ⎜ ⎟T( k )JL * LR R *k⎠⎞⎠RL⎫⎬⎭II- 51*Dans c<strong>et</strong>te équation, h k / m est la vitesse des porteurs injectés des contacts, <strong>et</strong> f L <strong>et</strong> f R sont les niveaux dezFermi associés aux contacts source(S) <strong>et</strong> drain (D) respectivement <strong>et</strong> T LR <strong>et</strong> T RL sont les coefficients d<strong>et</strong>ransmissions <strong>du</strong> courant SD <strong>et</strong> DS, égaux à 1 pour le cas balistique.- 65 -

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