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etude theorique et experimentale du transport electronique ... - Ief

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Chapitre II : Les différents niveaux de la modélisationporteurs injectés traversent rapidement le canal <strong>et</strong> la rétro-diffusion diminue. La comparaison des FigureII- 18 <strong>et</strong> Figure II- 19 révèlent aussi l’importance de prendre en compte toutes les bandes d’énergie <strong>du</strong>esau confinement. Pour étudier l’influence de la quantification, Jiménez <strong>et</strong> ses collaborateurs [87] ont étudiéla transcon<strong>du</strong>ctance de ce type de modèle compact à 40K <strong>et</strong> 300K comme illustrée sur les Figure II- 20 <strong>et</strong>Figure II- 21. L’apparition de ces pics provient de la succession des flux injectés dans le canal par chaqueniveau énergétique. Cela est expliqué en détails dans [88]. De plus c<strong>et</strong>te modélisation perm<strong>et</strong> facilementl’étude de MOSFET double Grille <strong>et</strong> à grille enrobante. Il faut pour cela calculer les fonctions d’onde dansle plan perpendiculaire au <strong>transport</strong> <strong>et</strong> utiliser ensuite la méthode des flux. Des travaux similaires ont étéeffectués par Likarev est ses collaborateurs [89] [90] [91] avec une simulation complète <strong>du</strong> dispositif en2D pour étudier les eff<strong>et</strong>s canaux courts <strong>et</strong> DIBL. Ils ont montré que les eff<strong>et</strong>s canaux courts sont critiquespour les dispositifs de longueur inférieurs à environ 10nm <strong>du</strong>s aux fortes fluctuations de tension de seuil.Un autre eff<strong>et</strong> très important à prendre en compte dans l’étude <strong>du</strong> <strong>transport</strong> balistique est l’eff<strong>et</strong> tunnel carl’étalement des fonctions d’ondes source <strong>et</strong> drain peut se recouvrir <strong>et</strong> engendrer une probabilité non nullede passage source à drain. Le groupe de Pur<strong>du</strong>e [92] a estimé avec un modèle compact (validé par dessimulations avec les fonctions de Green) que sur un MOSFET de 5 nm, 80% <strong>du</strong> courant I OFF <strong>et</strong> 20% <strong>du</strong>courant I ON est dû au courant tunnel.Figure II- 20: Transcon<strong>du</strong>ctance à 40K en fonction de V GSsur un double grille totalement balistique [87]Figure II- 21: Transcon<strong>du</strong>ctance à 300K en fonction de V GSsur un double grille totalement balistique [87]Par ailleurs, Lundstrom a réécrit le modèle de Natori dans une version simplifiée en vue de le généraliserau <strong>transport</strong> quasi-balistique [93]-[96]. Au dessus de c<strong>et</strong>te tension, la grille impose la charge en haut de labarrière de potentiel par la capacité de l’oxyde. Par ailleurs, c<strong>et</strong>te charge correspond dans le même temps àla contribution <strong>du</strong> flux positif <strong>et</strong> <strong>du</strong> flux négatif, donc:COX+−( V − V ) ≈ n ( E ) + n ( E − qV )GSthFSFSDSII- 53L’équation précédente détermine donc le niveau de Fermi en fonction des polarisations de grille <strong>et</strong> dedrain. Ayant déterminé le niveau de Fermi, les flux positif <strong>et</strong> négatif peuvent évalués en intégrant sur toutela population source <strong>et</strong> drain pour obtenir le courant [9]:ID= I+−( E ) − I ( E − qV )De plus, la densité de porteur en haut de la barrière de potentiel est donné par :SFSFSDS− +( 1 + n n )+ − += 0) = nS+ nS= nSS SII- 54n ( x/II- 55- 67 -

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