Maailmataju 2.1

Siin on arvestatud ka seda, et osakese määramatuse relatsioonid tulenevad lainelistest omadustest.
Joonis 32 Osakese pilu
difraktsioon.
Lainelised omadused esinevad nii üksikul osakesel kui ka siis, kui osakesi on väga palju. Näiteks C.
J. Davisson ja L. H. Germer avastasid, et kristallplaadilt hajuv elektronide juga tekitab difraktsioonipildi.
G. P. Thomson ja temast sõltumatult P. S. Tartakovski avastasid difraktsioonipildi
elektronide joa läbiminekul metall-lehest. Ka niimoodi leidis De Broglie´ hüpotees hiilgavat
eksperimentaalset kinnitust. O. Stern ja tema kaastöötajad näitasid seda, et difraktsiooninähtused
ilmnevad ka aatomite ja molekulide jugades. Difraktsioonipilt vastab lainepikkusele, mis on
määratud avaldisega:
kus h on jagatud 2π .
Mikroosakeste juga tekitab difraktsioonipildi, mis sarnaneb tasalaine poolt tekitatud difraktsioonipildiga:
Joonis 33 Elektronide difraktsioon. ( Saveljev 1979, 239 ).
Järgmistelt joonistelt on näha kaksikpilu-inteferentsipilti, mille annab kaksikpilu läbinud elektronkimp
luminestseerival ekraanil või fotoplaadil. Võrdluseks on see kõrvutatud valguse kaksikpilu-inteferentsipildiga.
On näha väga suurt sarnasust.
88
Joonis 34 Elektronide ja footonite inteferents.