Fusion entre les données ultrasonores et les images de radioscopie ...

&KDSLWUH ,,, 7UDLWHPHQW DXWRPDWLTXH GHV GRQQpHV
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III.1.2.3.
Performances de la méthode de seuillage
Les performances de la méthode décrite ci-dessus n'ont pas pu être évaluées sur un nombre
suffisant d'échantillons. Le seuil est ici choisi à partir d'une acquisition sur site industriel et
sur un échantillon de calibrage sans cordon de soudure.
III.1.2.4.
Recherche d'un écho et temps de parcours
La recherche automatique d’un écho dans la fenêtre [ t 0 ;t 0 +T ] (figure III.20.) est effectuée
de la manière suivante. S’il existe au moins une valeur d’amplitude supérieure au seuil S 2 il
existe alors un écho E dont on relève la valeur de l’amplitude maximale A max et le temps
correspondant t max . Le temps réel de parcours de l’onde t écho jusqu’au réflecteur est obtenu par
l’origine du pic, c’est-à-dire, le temps au bout duquel le pic prend naissance et devient
supérieur au niveau ψ. Ainsi, le temps t écho est déterminé par la relation suivante :
t
écho
= max( t / A(
t ) =ψ )
t<
tmax
(III.23.)
Il est important de remarquer que le temps mesuré correspond au temps de parcours de l’onde
entre le pic d’impulsion et la portion de surface du défaut qui réfléchit le faisceau ultrasonore.
Si l’on est en présence d’un défaut volumique de taille importante, le temps mesuré ne donne
pas la position du centre du défaut mais simplement la position de la portion de surface ayant
réfléchi l’onde (figure III.24.a).
Position mesurée
du défaut
Défaut volumique
Position mesurée
du défaut
Défaut plan
a) défaut volumique
b) défaut plan
Figure III.24. : Ecart entre position calculée à partir du temps de parcours de l’onde et
position réelle pour deux types de défaut: a) volumique, b) plan
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