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Caractérisation objective de la qualité de justesse, de timbre et d ...

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Simu<strong>la</strong>tions numériques <strong>de</strong>s instruments à anche simple.___________________________________________________________________________- Le calcul <strong>de</strong> <strong>la</strong> fonction <strong>de</strong> réflexion doit être réalisé à l' ai<strong>de</strong> d' une impédance dont <strong>la</strong> partieimaginaire (ou <strong>la</strong> phase) s' annule pour <strong>la</strong> fréquence maximale mesurée <strong>et</strong> connue sur unnombre <strong>de</strong> points, équidistants fréquentiellement, égal à une puissance <strong>de</strong> 2. L' utilisation d' unefréquence d' échantillonnage supérieure à 2F max , où F max est <strong>la</strong> fréquence maximale mesurée,s' avère impossible pour obtenir une fonction <strong>de</strong> réflexion discrète représentative <strong>de</strong> <strong>la</strong> fonctionanalogique. La fréquence d' échantillonnage est par conséquent toujours i<strong>de</strong>ntique à 2F max .- L' utilisation <strong>de</strong>s faibles fréquences d' échantillonnages mises en jeu vis-à-vis <strong>de</strong>scaractéristiques <strong>de</strong> l' anche nous amène à choisir une technique <strong>de</strong> discrétisation du systèmed' équations modélisant le comportement dynamique <strong>de</strong> l' anche : <strong>la</strong> transformation bilinéairecorrigée. C<strong>et</strong>te technique perm<strong>et</strong> d' obtenir une anche numérique dont <strong>la</strong> rai<strong>de</strong>ur statique <strong>et</strong> <strong>la</strong>fréquence propre sont i<strong>de</strong>ntiques à leurs homologues analogiques. Cependant <strong>la</strong> valeur <strong>de</strong>l' amortissement équivalent à l' anche numérique obtenue est toujours inférieur à celle <strong>de</strong>l' amortissement analogique. C<strong>et</strong>te différence est d' ailleurs d' autant plus gran<strong>de</strong> que <strong>la</strong>fréquence propre <strong>de</strong> l' anche analogique est élevée.- La résolution du système compl<strong>et</strong> pose quelquefois <strong>de</strong>s problèmes <strong>de</strong> convergencenumérique que nous résolvons à l' ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> <strong>la</strong> métho<strong>de</strong> exposée au paragraphe V.2.Cependant, c<strong>et</strong>te technique impose le choix d' une fréquence d' échantillonnage, paramètrecritique lors <strong>de</strong> <strong>la</strong> simu<strong>la</strong>tion numérique temporelle, dépendant <strong>de</strong>s caractéristiques durésonateur. Pour chaque doigté d' un instrument simulé, une fréquence d' échantillonnagedifférente peut être choisie, créant ainsi une anche numérique différente ; ceci peut apparaîtrecomme un handicap <strong>de</strong> <strong>la</strong> métho<strong>de</strong>. A terme, c<strong>et</strong>te technique pourrait être modifiée (parexemple en annu<strong>la</strong>nt artificiellement <strong>la</strong> phase <strong>de</strong> l' impédance d' entrée lors <strong>de</strong> <strong>la</strong> mesure) pourconserver une fréquence d' échantillonnage constante quelque soit le doigté étudié.Les premiers résultats obtenus dans c<strong>et</strong>te partie montrent néanmoins que <strong>la</strong> métho<strong>de</strong>proposée est un outil adéquat pour <strong>la</strong> recherche <strong>de</strong>s solutions approchées du modèleélémentaire appliqué à <strong>de</strong>s cas réels._________________________________________________________________________99

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