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Caractérisation objective de la qualité de justesse, de timbre et d ...

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Simu<strong>la</strong>tions numériques <strong>de</strong>s instruments à anche simple.___________________________________________________________________________<strong>de</strong> réflexion discrète n' est polluée que faiblement. Il nous est maintenant possible <strong>de</strong> proposerune technique d' évaluation <strong>de</strong> <strong>la</strong> fonction <strong>de</strong> réflexion discrète, dont les caractéristiques serontproches <strong>de</strong> <strong>la</strong> fonction <strong>de</strong> réflexion analogique. C<strong>et</strong>te technique consiste à rechercher, autourd' une fréquence F' max choisie, <strong>la</strong> fréquence F maxl' impédance d' entrée s' annule (cf. Figure II-3b).pour <strong>la</strong>quelle <strong>la</strong> partie imaginaire <strong>de</strong>Evaluation <strong>de</strong> <strong>la</strong> <strong>la</strong>rgeur <strong>de</strong> ban<strong>de</strong> souhaitée approximative [0,F' max ]ÐMesure ou calcul <strong>de</strong> l' impédance d' entrée Z(f) autour <strong>de</strong> F' maxÐCalcul <strong>de</strong> <strong>la</strong> fréquence maximale F max à l' ai<strong>de</strong> d' une interpo<strong>la</strong>tion par modèle physique (métho<strong>de</strong>du cercle <strong>de</strong> Nyquist, Le Roux, 1994) <strong>de</strong> façon à ce que Im[Z e (F max )]=0.NFFTÐChoix du nombre <strong>de</strong> points N = 2 <strong>et</strong> calcul <strong>de</strong> l' ensemble <strong>de</strong>s fréquences discrètesfk = k ∆ f , k = 1,..., N / 2, avec F max =f N/2ÐMesure ou calcul <strong>de</strong> Z e (f k ) pour k=1, ..., N/2.ÐCalcul du coefficient <strong>de</strong> réflexion discr<strong>et</strong>: jω( )R ( e kZ f Z) R ( f )k − cσ = σ k = , k = 1,..., N / 2,Z( fk) + Zc jω( ) *R e N− k jω= R ( e k ) .σÐUtilisation d' un algorithme <strong>de</strong> F.F.T. inverse appliqué à R ( e j ω k ) pour k=0,....,N-1.La condition R ( e j k ) = −1 est imposée pour k=0.σωÐObtention <strong>de</strong> rd n = r σ n , fonction réelle, stable, faiblement polluée d' oscil<strong>la</strong>tions parasites.ÐCondition imposée : r d 0 = 0, car en général r σ 0 ≠ 0.σσFigure II-3b: métho<strong>de</strong> d' évaluation <strong>de</strong> <strong>la</strong> fonction discrète à partir <strong>de</strong> l' impédance vérifiantIm Ze ( F max ) = 0Une <strong>de</strong>uxième technique est envisageable au cas où il est impossible d' utiliser unefréquence d' échantillonnage <strong>de</strong> valeur quelconque, par exemple, lors d' une simu<strong>la</strong>tion surstation <strong>de</strong> travail équipée <strong>de</strong> logiciels <strong>de</strong> traitement <strong>de</strong> sons utilisant <strong>de</strong>s fréquencesd' échantillonnages prédéfinies._________________________________________________________________________57

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