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Caractérisation objective de la qualité de justesse, de timbre et d ...

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Partie B.___________________________________________________________________________N.B. Tous ces résultats sont obtenus à l' ai<strong>de</strong> d' une fonction <strong>de</strong> réflexion <strong>de</strong> longueurNT0= 2 . LBU, où N est le nombre <strong>de</strong> points utilisés pour <strong>la</strong> F.F.T. <strong>et</strong> LBU <strong>la</strong> <strong>la</strong>rgeur <strong>de</strong> ban<strong>de</strong>utile à <strong>la</strong> mesure ou au calcul <strong>de</strong> l' impédance d' entrée (cf. § III.). L' utilisation d' une tellefonction <strong>de</strong> réflexion discrète conduit souvent à <strong>de</strong>s temps <strong>de</strong> calcul re<strong>la</strong>tivement élevés(environ 2,5 ms par échantillon pour une fonction <strong>de</strong> réflexion <strong>de</strong> 2048 points). Si <strong>la</strong> fonction<strong>de</strong> réflexion discrète est calculée en respectant tous les critères énoncés dans c<strong>et</strong>te partie(continuité du coefficient <strong>de</strong> réflexion en f=F max , pas d' interpo<strong>la</strong>tion,...), il est possible <strong>de</strong>réaliser les simu<strong>la</strong>tions à l' ai<strong>de</strong> d' une fonction <strong>de</strong> réflexion tronquée étant donné que <strong>de</strong>nombreux échantillons <strong>de</strong> r d [n] sont quasi-nuls pour n suffisamment grand, ce qui n' affecte enrien le signal calculé (cf. § III.5, partie B). Dans ce cas, les temps <strong>de</strong> calcul sont notablementréduits (environ 0,1 ms par échantillon pour une fonction <strong>de</strong> réflexion tronquée <strong>de</strong> 2048 pointsà 38 points).VI.3. Comparaison <strong>de</strong>s résultats <strong>de</strong> simu<strong>la</strong>tions pour les métho<strong>de</strong>s fréquentielles <strong>et</strong>temporelles. Utilisation <strong>de</strong>s diverses anches discrètes.La procédure <strong>de</strong> calcul <strong>de</strong> <strong>la</strong> fonction <strong>de</strong> réflexion discrète étant vérifiée, il est nécessaire<strong>de</strong> contrôler l' eff<strong>et</strong> <strong>de</strong>s différentes anches numériques décrites au paragraphe IV sur lessignaux simulés. Nous utilisons alors le modèle élémentaire tenant compte <strong>de</strong> <strong>la</strong> dynamique<strong>de</strong> l' anche décrit par le système d' équations (I-9) :p( ω)= ZddtU⎛⎛ ξa(t) ⎞ ⎜ 0⎜ ⎜Ua(t)⎟ =⎝ ⎠ ⎜ 2⎝− ωa.Se(t) =e( ω).U2bρPea( ω)a⎡− p(t) ⎢ξ⎢⎣1S− gaaa⎞⎟⎛ ξ (t)S .p(t)0a ⎞⎛ ⎞⎜ ⎟⎟⎜ + aUa(t)⎟⎜ ⎟⎟⎝⎠⎝ µ⎠a ⎠P(t) + H −aµ ωa2a⎤⎥ − U⎥⎦a(t)(I-9)<strong>et</strong> l' appliquons à un tube avec pertes visco-thermiques dont les caractéristiques sont énoncéesau paragraphe VI.1.2. Les anches discrètes utilisées sont les anches décou<strong>la</strong>nt <strong>de</strong>s métho<strong>de</strong>s <strong>de</strong>discrétisation stables décrites au paragraphe IV Leur imp<strong>la</strong>ntation dans <strong>la</strong> simu<strong>la</strong>tion esteffectuée grâce aux équations aux différences données à l' annexe B.Les résultats <strong>de</strong> ces simu<strong>la</strong>tions sont comparés à ceux <strong>de</strong> <strong>la</strong> métho<strong>de</strong> d' équilibrageharmonique <strong>et</strong> sont analysés en fonction <strong>de</strong> <strong>la</strong> fréquence d' échantillonnage. Ils sont présentésaux figures (II-21) pour l' étu<strong>de</strong> <strong>de</strong> l' évolution <strong>de</strong> <strong>la</strong> fréquence fondamentale du signal <strong>de</strong>pression calculé <strong>et</strong> aux figures (II-22) pour l' étu<strong>de</strong> <strong>de</strong> l' amplitu<strong>de</strong> du fondamental <strong>de</strong> <strong>la</strong>pression calculée._________________________________________________________________________90

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