UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

7.7 Amplificadores de instrumentación con componentes discretos ...................... 213
CAPITULO 8
EFECTOS DE LA RADIACIÓN SOBRE LAS REFERENCIAS
DISCRETAS DE TENSIÓN
8.1 Diodos discretos utilizados como referencias de tensión ................................. 217
8.1.1 Diodos Zener y de ruptura por avalancha ........................................................ 218
8.1.2 Diodos de referencia ........................................................................................ 219
8.2 Referencias de tensión con diodo Zener enterrado ........................................... 220
8.2.1 Tensión de salida ............................................................................................. 220
8.2.2 Corriente en cortocircuito ................................................................................ 222
8.2.3 Consumo de corriente ...................................................................................... 223
8.3 Referencias de tensión bandgap ........................................................................ 224
8.3.1 Tensión de salida ............................................................................................. 224
8.3.2 Tensión térmica ............................................................................................... 226
8.3.3 Corriente en cortocircuito ................................................................................ 226
8.3.4 Consumo de corriente ...................................................................................... 227
8.4 Referencias de tensión XFET ........................................................................... 228
8.5 Degradación del amplificador interno en las referencias de tensión ................ 229
8.5.1 Influencia de +VCC en VOUT ............................................................................. 229
8.5.2 Descenso de la corriente de cortocircuito de la salida ..................................... 230
8.5.3 Evolución de VOUT frente a Φ .......................................................................... 230
8.5.4 Efectos de la reducción de IShCC en la polarización interna de la referencia .... 232
8.5.5 Influencia de la radiación en el consumo de corriente ..................................... 233
CAPITULO 9
EFECTOS DE LA RADIACIÓN EN CONVERSORES DIGITAL-ANALÓGICOS
9.1 Descripción de los conversores irradiados ....................................................... 235
9.1.1 Dispositivos irradiados .................................................................................... 235
9.1.2 Condiciones del test ......................................................................................... 237
9.2 Conversores D/A en tecnología bipolar ............................................................ 238
9.2.1 Evolución de las referencias internas .............................................................. 238
9.2.1.1 Evolución de las referencias de tensión durante la irradiación .......................... 239
9.2.1.2 Influencia de la tensión de alimentación en las referencias de tensión .............. 239
9.2.1.3 Discusión sobre los resultados experimentales .................................................. 240
9.2.2 No idealidades de un conversor ....................................................................... 241
9.2.2.1 Error de offset y ganancia ................................................................................... 241
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