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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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71<br />

Efectos de la radiación sobre componentes electrónicos básicos<br />

irradiación. A semejanza del transistor bipolar, el transistor JFET de canal p sufre mayor daño<br />

cuando la irradiación es lenta que cuando es mucho más rápida [Fla96].<br />

3.8 El transistor MOSFET<br />

Un transistor MOSFET, de canal p o n, es un<br />

dispositivo unipolar de amplio uso en el diseño<br />

electrónico. La gran mayoría de los transistores<br />

MOSFET se construyen en silicio siendo<br />

normalmente el aislante que necesitan dióxido de<br />

silicio aunque se han probado otros compuestos<br />

aislantes como Si3N4. Fig. 3.28 muestra un<br />

esquema del transistor MOSFET ideal de canal n.<br />

En este transistor, dos regiones fuertemente<br />

dopadas llamadas drenador (D) y fuente (S) están<br />

separadas por otra de longitud L y anchura W, llamada “canal”, de dopado opuesto aunque con<br />

una concentración de impurezas mucho menor. Superpuesta a ella, se ha hecho crecer una capa<br />

de óxido de espesor H sobre la que se ha construido un terminal metálico, llamado “puerta” (G),<br />

que cubre totalmente el canal.<br />

En caso de que el terminal de puerta estuviera al aire, sería imposible el paso de corriente<br />

desde el drenador al emisor ya que hay siempre una unión PN inversamente polarizada. Este<br />

problema se resuelve aplicando una tensión positiva en el terminal de puerta. Si se aplica una<br />

tensión positiva al terminal de puerta, se atraerán electrones desde el substrato hacia la superficie<br />

del dieléctrico, que pueden sobrepasar en número a los huecos del substrato. Este canal une las<br />

dos regiones, permitiendo el paso de corriente eléctrica de una a otra región del transistor.<br />

Aceptemos que la fuente y el drenador están conectados a tierra y que el substrato está<br />

conectado a la tensión más negativa del circuito (Tierra o –VDD). Las bandas del semiconductor<br />

tipo p están combadas hacia arriba en las cercanías de la interfaz Si-SiO2. Esto provoca que los<br />

electrones sean repelidos de esta región del espacio.<br />

Si se aplica en la puerta una tensión VGS, la curvatura de las bandas se modifica hasta que<br />

esta curvatura desaparezca por completo. La tensión VGS = VFB a la que acontece este fenómeno<br />

se denomina tensión de banda plana. Si sigue aumentando el valor de la tensión VGS, las bandas<br />

se inclinan hacia abajo. Por tanto, el mínimo de energía para los electrones se encuentra en las<br />

cercanías de la interfaz y son atraídos en consecuencia hacia esta región. De esta manera, se crea<br />

el canal que une los dos terminales. Otra tensión de interés en el estudio de un transistor MOS es<br />

la tensión umbral VTH. Esta tensión, que es ligeramente superior a la tensión de banda plana VFB,<br />

delimita las dos zonas de comportamiento eléctrico de un transistor. En el caso de que VGS < VTH,<br />

no es posible el flujo de corriente entre drenador y fuente, definiéndose esta zona de trabajo<br />

como zona de corte. En cambio, si VGS > VTH, el paso de corriente es posible y se dice que el<br />

Fig. 3.28: Transistor MOS ideal de canal n construido<br />

en silicio. El substrato (B) debe conectarse a la tensión<br />

más negativa del circuito.

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