06.05.2013 Views

UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Capítulo 3<br />

consecuencia, se establece un desequilibrio en el flujo de electrones de tal forma que aparece una<br />

corriente eléctrica neta desde el metal al semiconductor.<br />

En el caso de que la tensión fuese negativa, las bandas del semiconductor se desplazarían<br />

hacia arriba por lo que aumenta su capacidad de emitir electrones. La del metal no ha cambiado<br />

por lo que, en este caso, la corriente eléctrica fluye desde el semiconductor hacia el metal. Esta<br />

corriente va a ser bastante más pequeña que la que aparece en sentido inverso con la misma<br />

tensión ya que el número de electrones en la banda de conducción del semiconductor es mucho<br />

menor que los que se encuentran en el nivel de Fermi del metal.<br />

Se puede demostrar que la corriente que atraviesa una unión Schottky es gobernada por una<br />

expresión similar a la de la unión PN ideal:<br />

⎡ ⎛ V ⎞ ⎤<br />

I = ISCH<br />

,0 ·exp ⎢ ⎜ ⎟−1⎥<br />

(3.21)<br />

⎣ ⎝VT⎠ ⎦<br />

donde ISCH,0 es la corriente de saturación inversa de la unión Schottky cuyo valor es:<br />

* 2<br />

4· π· me· k 2 e· ΦB * 2 e·<br />

ΦB<br />

SCH ,0 = · · ·exp − = · ·exp −<br />

3<br />

⎛ ⎞ ⎛ ⎞<br />

I AT ⎜ ⎟ A T ⎜ ⎟<br />

h ⎝ kT · ⎠ ⎝ kT · ⎠ (3.22)<br />

*<br />

siendo k y h las constantes de Boltzmann y Planck, m e la masa efectiva del electrón en la<br />

banda de conducción, A la superficie total de la unión, T la temperatura absoluta y ΦB = ΦM – χ.<br />

Normalmente, la primera parte de la expresión suele agruparse en A*, llamada la constante de<br />

Richardson.<br />

A diferencia de una unión PN, no existen corrientes de difusión. Por esta causa, la única<br />

capacidad que puede encontrarse en una unión Schottky es la capacidad de vaciamiento. En el<br />

caso de que el semiconductor esté dopado con donantes, que es lo habitual, el valor de la<br />

capacidad es, teóricamente:<br />

q· ε · N 1 2<br />

C = A ⇔ = · V −V<br />

V<br />

S D<br />

2 2<br />

BI<br />

2· ( VBI −V)<br />

CVA · q· ε S · ND<br />

( )<br />

3.5.2 No idealidades de una unión Schottky<br />

50<br />

(3.23)<br />

En toda unión de este tipo aparecen efectos que alejan a este tipo de diodos de la idealidad.<br />

Se enumeran a continuación dichos efectos:<br />

A) Existencia de niveles de superficie: La superficie de unión entre el metal y el<br />

semiconductor se ha supuesto perfecta. Sin embargo, los átomos exteriores del<br />

semiconductor no pueden realizar correctamente el enlace covalente al carecer de<br />

compañero para realizar el intercambio. Esto conlleva que aparezca niveles de tensión en el<br />

interior de la banda prohibida que tienen como consecuencia que ΦB ≠ ΦM – χ.<br />

B) Presencia de óxido interfacial: Durante el proceso de construcción de la unión Schottky,<br />

puede aparecer una finísima capa de óxido entre el metal y el semiconductor. En la

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!