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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 8<br />

modificado las características del diodo polarizado en directa en tanto que el diodo Zener<br />

permanece inalterado.<br />

8.2 Referencias de tensión con diodo Zener enterrado<br />

Las referencias cuyo comportamiento fue examinado bajo radiación fueron los modelos<br />

REF102 y REF02, ambos de Texas Instruments. La primera de ellas tiene una salida de 10 V en<br />

tanto que la de la segunda es 5 V. La tecnología de construcción de esta última referencia fue<br />

confirmada mediante una comunicación del servicio técnico de la propia compañía puesto que,<br />

curiosamente, las versiones del modelo REF02 fabricadas por otras compañías (Analog Devices,<br />

Maxim), que han sido sometidas también a radiación, son de tipo band-gap.<br />

Antes de la irradiación, se midieron las relaciones entre la alimentación y la tensión de<br />

salida y consumo de corriente. A partir de la relación +VCC-VOUT, puede deducirse el valor de la<br />

tensión mínima de alimentación y el coeficiente de regulación de línea. Asimismo, se determinó<br />

la corriente de cortocircuito de la salida así como su dependencia de la alimentación antes y<br />

después de la irradiación, cuyas definiciones se encuentran en el apartado 4.5.1.<br />

Durante la irradiación, se midió la tensión de salida y el consumo de corriente de cada una<br />

de las muestras con una alimentación de 15 V. Por otra parte, las salidas de las muestras estaban<br />

cargadas con resistencias tales que obligasen al dispositivo a dar un 50 % de la máxima corriente<br />

de salida que asegura el fabricante. Por ejemplo, las referencias REF02, cuya salida es de 5 V,<br />

fueron cargadas con una resistencia de 330 Ω ya que el fabricante asegura que puede<br />

proporcionar 30 mA. Todas las referencias discretas examinadas fueron irradiadas en las mismas<br />

condiciones.<br />

8.2.1 Tensión de salida<br />

Fuese cual fuese el modelo, en todas las muestras irradiadas se observó un comportamiento<br />

similar. En los primeros instantes, se observa que la tensión de salida apenas cambia y sólo se<br />

observan algunas fluctuaciones que pueden ser achacados al incremento de temperatura de la<br />

cavidad de irradiación, que creció rápidamente de 15ºC a 35ºC. Cuando se alcanza un<br />

determinado valor de radiación (∼10 12 n·cm -2 ), se observa una modificación suave de la tensión<br />

de salida. En el caso de la referencia REF102, el valor de la tensión de salida crece con la<br />

radiación (Fig. 8.5a) en tanto que, en la otra referencia, se observa un suave decrecimiento (Fig.<br />

8.5b).<br />

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