UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID
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Efectos de la radiación sobre amplificadores operacionales de pequeña señal y potencia<br />
( − )<br />
V R · h · h · I I<br />
(6.8)<br />
OUT L FEQA , 1 FEQA , 2 Q ShNegIni ,<br />
Dado que el amplificador operacional estaba configurado como seguidor de tensión,<br />
esta tensión se identificó como la de offset de la entrada.<br />
A medida que disminuye IShNeg,Ini, la salida seguirá creciendo por lo que se justificaría<br />
el aumento de la tensión de offset. Sin embargo, no sólo decrece IShNeg,Ini, sino que también<br />
lo hace la ganancia de los transistores del par Darlington. Para valores muy altos de flujo<br />
de neutrones, VOUT → 0 ya que hFE,QX → 0. Este hecho justifica que la tensión de offset de<br />
los amplificadores PA10 y PA12A alcance un máximo y comience a decrecer si la<br />
irradiación prosigue.<br />
Otros trabajos [Joh76, Bon97, Sha97] han hallado resultados similares a los mostrados en<br />
esta memoria tanto al irradiar con neutrones como con radiaciones ionizantes. Sin embargo, la<br />
corriente en cortocircuito no suele ser estudiada en los amplificadores irradiados, a pesar de que<br />
puede ser un parámetro clave. P. e., el amplificador OPA602 puede llegar aparentemente hasta<br />
un valor de 8·10 13 n·cm -2 sin ser gravemente afectado: VOS = 7 mV, IB, IOS ≈ 10 pA, GOL = 85 dB,<br />
fu = 3 MHz y S.R. = 3.8 V/µs. Esto permitiría juzgarlo como una excelente opción para diseñar<br />
un sistema de instrumentación tolerante a radiación. Sin embargo, no puede proporcionar más de<br />
0.8 mA. Por ejemplo, si se colocase en una red no inversora de ganancia 5.7 con R1 = 1 kΩ y R2<br />
= 4.7 kΩ, la tensión de salida no podría exceder nunca de 4.56 V, pudiendo afectar seriamente al<br />
sistema completo.<br />
6.6.5 Desplazamiento de la tensión de saturación<br />
El valor teórico de este parámetro se estudió en ap. 4.3.9. En él, se vio que estas tensiones<br />
equivalían a la suma de tensiones CE en saturación, BE en ZAD, etc. En general, son<br />
parámetros que se ven afectados por el daño por desplazamiento pero sin sufrir cambios<br />
importantes en su valor.<br />
En los amplificadores de pequeña<br />
señal, se observaron sólo pequeños cambios<br />
en el valor de estos dos parámetros, de<br />
apenas unos milivoltios incluso en las<br />
muestras más irradiadas. Los únicos cambios<br />
significativos se encontraron en los modelos<br />
bipolares similares al modelo OP27, en los<br />
que el valor de SVS positivo se mudó de 0.5<br />
V a 0.1 V en las muestras más irradiadas.<br />
Asimismo, se observa una mínima<br />
dependencia de la tensión de alimentación.<br />
En los amplificadores de potencia de<br />
199<br />
Fig. 6.28: Evolución del desplazamiento de la tensión de<br />
saturación en los amplificadores OPA541A.