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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 3<br />

⎛ V ⎞<br />

IS = IS0<br />

·exp ⎜ ⎟,<br />

1 < m < 2<br />

(3.11)<br />

⎝mV · T ⎠<br />

siendo m el coeficiente de idealidad del diodo. Si m ≈ 1, el diodo es prácticamente ideal y<br />

predominan las corrientes de difusión. En caso contrario, m ≈ 2 y predominan las corrientes de<br />

recombinación.<br />

Por otro lado, es necesario tener en cuenta que en las partes del diodo entre la zona de<br />

vaciamiento y en los contactos, el transporte de corriente se realiza por arrastre y no por difusión.<br />

Por tanto, en estas regiones se producirán caídas de tensión de origen óhmico que se modelarán<br />

como resistencias parásitas en serie cuyo valor depende del semiconductor y del propósito del<br />

diodo. Fig. 3.9 muestra el efecto que produce esta resistencia en la característica V-I del diodo.<br />

C) Conducción en inversa en una unión PN: Un diodo no sólo puede conducir cuando se<br />

aplica una tensión positiva entre la zona p y la n sino que también lo hace si ésta es negativa.<br />

Hay que reseñar que los mecanismos de difusión siguen funcionando con tensiones negativa.<br />

Prueba de ello es el hecho de que (3.5) no tiende a 0 cuando V -∞, sino a –IS.<br />

Excepto en el caso del germanio, la importancia de la corriente de difusión es menor que la<br />

componente de generación. La corriente de generación aparece en una unión PN inversamente<br />

polarizada cuando se crea espontáneamente por agitación térmica un par electrón-hueco. En caso<br />

de que no hubiese campo eléctrico aplicado, el par se recombinaría pero, dado que el campo<br />

existe, el electrón y el hueco son arrastrados en direcciones opuestas. Se puede demostrar que<br />

este fenómeno se traduce en la aparición de una corriente –IG cuyo valor coincide con (3.10). Por<br />

esta causa, las corrientes de recombinación en directa y de generación en inversa se agrupan en<br />

la misma expresión IR-G cuyo valor es (3.9)-(3.10).<br />

Sin embargo, hay que tener en cuenta un hecho significativo. En primer lugar, IR-G,0<br />

depende de la anchura de la unión W. El valor de W se recoge en (3.4) y en él se observa una<br />

dependencia de la tensión aplicada –V. Por tanto, la corriente de generación depende de la<br />

tensión inversa aplicada. En primera aproximación, la unión PN puede linealizarse en torno a -V0<br />

y modelarse como el paralelo de una fuente de corriente IR-G,0(-V0) y una resistencia de valor<br />

∂I ∂ V .<br />

R− G,0 V=−V0 3.4.2 Rupturas por efecto Zener y por avalancha<br />

Las corrientes descritas en ap. 3.4.1.c son, en general, muy pequeñas pero existen<br />

mecanismos que permiten que una gran corriente atraviese un diodo polarizado en inversa. Son<br />

los fenómenos de ruptura, de los que los más importantes son la ruptura por avalancha y la<br />

ruptura Zener.<br />

La ruptura por avalancha se produce cuando el campo eléctrico en la zona de vaciamiento<br />

es tan intenso que arranca electrones que se encontraban ligados a los átomos de la red cristalina.<br />

El campo límite se denomina “campo eléctrico de ruptura”, EBR, y es propio de cada material. Se<br />

puede demostrar fácilmente que la tensión de ruptura, VBR, es:<br />

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