UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

Capítulo 6
(a) (b)
(c) (d)
Fig. 6.17a-d : Evolución del slew rate en los amplificadores operacionales irradiados. En las figuras (a) y (b), las líneas
discontinuas corresponden al valor de slew rate negativo.
Se produjo un descenso del valor de slew rate de los amplificadores tras la irradiación,
hecho que se muestra en fig. 6.17a-d. En el caso de los amplificadores bipolares, se estimó la
relación SR/fu, que se muestra en tabla 6.2. No se han incluido los amplificadores OPA227 y
OPA277 puesto que fue imposible medir de forma fiable el valor de slew rate. En los
amplificadores no irradiados, este coeficiente es muy próximo a 0.327, como predice (4.41). Sin
embargo, a medida que progresa la irradiación, este cociente va decreciendo hacia valores
menores.
En el caso de los amplificadores con entrada JFET, la relación es cuadrática y la constante
de proporcionalidad depende de cada transistor (4.42). Dado que K = SR/fu 2 es inmune a la
radiación, este coeficiente se debe mantener en los amplificadores irradiados. En algunos casos,
no había suficientes muestras en las que se pudiese medir el slew rate correctamente, bien por
que las muestras hubiesen sido destruidas (OPA132), o bien por que la influencia del polo
dominante fuese significativa (OPA111). En otros casos, el rango de valores de la frecuencia de
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