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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 3<br />

Fig. 3.4: Las cargas positivas atrapadas en el óxido impiden que<br />

todos las cargas móviles diseminadas por las placas abandonen el<br />

condensador. Estas habrían abandonado el condensador si las cargas<br />

positivas no existiesen.<br />

abundantes que atrapan de nuevo los electrones creados por efecto fotoeléctrico. Por otro lado,<br />

estas cargas son fácilmente eliminadas con un calentamiento de varias horas a 50 ºC aunque<br />

pueden permanecer durante varias semanas si la muestra se encuentra a temperatura ambiente.<br />

Finalmente, hay que mencionar el incremento de la conductividad producido por efecto<br />

fotoeléctrico en el dieléctrico del condensador. Este efecto ha sido descrito en los artículos<br />

mencionados con anterioridad y fue comprobado experimentalmente.<br />

3.4 Efectos de la radiación sobre una unión PN<br />

La unión PN es el dispositivo electrónico no lineal más sencillo que existe. El estudio<br />

exhaustivo de esta estructura puede ser encontrado en gran cantidad de libros de amplia difusión<br />

[Tya91, Nea92, Sze81, Sze85, Neu89]. En este apartado, se realiza un resumen del<br />

funcionamiento de este dispositivo así como el efecto que puede tener la radiación sobre ellos.<br />

Fig. 3.6: Esquema simplificado de una unión PN. Las dos<br />

zonas tiene un dopado N A y N D. Entre ambas partes, se ha<br />

creado una región libre de portadores llamada “zona de<br />

vaciamiento” de anchura W.<br />

Una unión de este tipo se construye implantando o difundiendo impurezas en un substrato<br />

semiconductor de distinto dopado o bien haciendo crecer sobre éste una capa de dopado opuesto.<br />

A continuación, el silicio debe ser recubierto con una capa de óxido de protección. Fig. 3.5<br />

muestra una estructura tridimensional de un diodo de difusión. Se han difundido impurezas<br />

donadoras sobre un substrato tipo p, añadido un par de contactos (En el caso de la zona n, se tuvo<br />

que dopar fuertemente la unión para que se comportara de manera óhmica) y se recubrió con un<br />

óxido de protección. En estos casos, en lugar del diodo tridimensional, se estudia un modelo más<br />

simplificado, en una sola dimensión, que se representa en fig. 3.6.<br />

38<br />

Fig. 3.5: Estructura física de una unión PN.<br />

Fig. 3.7: Estructura de bandas en una unión PN.

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