UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

Capítulo 9
(a) (b)
(c) (d)
Fig. 9.16: Relación entrada-salida de diversos conversores D/A en tecnología CMOS a diversas dosis de radiación:
AD7541 (a), MX7541 (b), AD7545 (c) y DAC8222 (d) .
recta que va desde 0 a –10 V. Sin embargo, a medida que progresa la irradiación, el valor V00..00
va creciendo aunque en ningún momento se modifica el valor de V11..11. Si continúa la
irradiación, la línea recta se convierte en una línea con forma de escalera, como puede apreciarse
en la línea D de este dibujo.
En todos los casos, se observa que existe omnipresencia de las potencias de 2. Por ejemplo,
la línea D de fig. 9.16b tiene cuatro tramos. Las líneas B y C de 8.15c tienen cada una de ellas,
16 y 8 tramos. Incluso en líneas aparentemente irregulares pueden encontrarse estos patrones:
P.e., la línea C de 8.15d tiene 4 tramos principales. En cada uno de ellos, puede encontrarse
asimismo 2, 4, 2 y 8 valores mínimos por intervalo.
Todos estos datos apuntan hacia un resultado esclarecedor: Los conmutadores CMOS están
siendo destruidos. Así, un conversor D/A se habrá inutilizado por completo cuando la entrada
efectiva sea 11..11 independientemente del valor real. A consecuencia de esto, cualquiera que
sea la entrada, la salida será –10 V.
Esta destrucción no se produce bruscamente ya que algunas entradas son más tolerante que
otras. En general, cuanto mayor sea la importancia de la entrada, mayor es su tolerancia aunque
no siempre se cumple esta regla. Por este motivo, es posible que, durante una fase de la
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