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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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CAPITULO 8<br />

EFECTOS <strong>DE</strong> LA RADIACIÓN SOBRE LAS REFERENCIAS<br />

DISCRETAS <strong>DE</strong> TENSIÓN<br />

Las referencias de tensión son dispositivos integrados capaces de proporcionar una tensión<br />

constante e independiente de la alimentación, temperatura y carga. Las referencias de precisión<br />

constan de un núcleo central, capaz de proporcionar una tensión constante, y un amplificador<br />

operacional realimentado, que mejora las características de salida.<br />

El primer apartado se destina al estudio de los diodos de ruptura, tanto Zener como de<br />

avalancha, y de los diodos de referencia. Estos elementos son las referencias más sencillas que<br />

existen aunque, para conseguir una mayor precisión, es necesario añadir un amplificador<br />

operacional. Los siguientes apartados tratan sobre los resultados experimentales obtenidos al<br />

irradiar los tres tipos de referencia (Zener enterrado, band-gap y XFET). Finalmente, el último<br />

apartado intenta aclarar los mecanismos de degradación de estos dispositivos vinculándolos a la<br />

evolución de los amplificadores operacionales internos.<br />

8.1 Diodos discretos utilizados como referencias de tensión<br />

Las referencias de tensión más sencillas son los diodos con una baja tensión de ruptura,<br />

cuya estructura se describió en ap. 3.4. Si la ruptura acontece entre 0 y 4 V, el mecanismo físico<br />

predominante es el efecto túnel. Si es superior a 8 V, predomina la avalancha de portadores y,<br />

entre 4 y 8 V, ambos efectos coexisten.<br />

El comportamiento térmico depende del mecanismo de ruptura, opuestos entre sí. En la<br />

región de 4-8 V, el coeficiente térmico puede anularse aunque se pueden utilizar dos diodos<br />

enfrentados entre sí, uno en ruptura y otro en inversa (fig. 4.38). Estos son conocidos como<br />

diodos de referencia.<br />

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