UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID
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Capítulo 3<br />
El objetivo primordial de los transistores es la capacidad de amplificar pequeñas señales.<br />
Un transistor JFET en pequeña señal puede modelarse como una fuente de corriente controlada<br />
por la tensión de puerta. Las variaciones de la corriente eléctrica que atraviesa el transistor es<br />
proporcional a las variaciones de la tensión de puerta. Normalmente, el transistor trabaja en<br />
saturación y puede deducirse de (3.39c) que la ganancia es:<br />
g<br />
ms<br />
3I<br />
⎛ DSS = ⎜1− V ⎜<br />
P0 ⎝<br />
VBI −V ⎞ GS µ NNDWa⎛ ⎟= 1−<br />
V ⎟ ⎜<br />
P0 L ⎜<br />
⎠ ⎝<br />
VBI −VGS<br />
VP0<br />
⎞<br />
⎟<br />
⎠<br />
La máxima ganancia se consigue cuando VGS = 0 y es:<br />
68<br />
(3.46)<br />
max 3I<br />
⎛ DSS V ⎞ BI µ N NDWa⎛ V ⎞ BI<br />
gms<br />
= ⎜1 1<br />
V ⎜<br />
− ⎟<br />
P V ⎟<br />
= ⎜ − ⎟<br />
(3.47)<br />
P L ⎜ V ⎟<br />
⎝ ⎠ ⎝ P0⎠<br />
Sin embargo, un transistor real presenta una serie de no idealidades que deben tenerse en<br />
cuenta para describir su comportamiento eléctrico. A continuación se enumeran dichas no<br />
linealidades:<br />
- Resistencias parásitas: Antes de llegar al canal y tras salir de éste, la corriente eléctrica<br />
debe atravesar una zona del semiconductor muy poco dopada. En este caso, se producen<br />
caídas de tensión que deben modelarse como un par de resistencias en serie con el<br />
transistor.<br />
- Modulación del canal: De (3.40) se deduce que la corriente que atraviesa un JFET<br />
depende de la longitud del canal. A medida que aumenta la tensión VDS, el canal se hace<br />
más corto debido a la expansión de las regiones de vaciamiento. A consecuencia de esto, la<br />
corriente que atraviesa el canal aumenta si lo hace VDS. Por este motivo, es necesario añadir<br />
una dependencia adicional con la tensión de drenador. Experimentalmente, se ha<br />
demostrado que la corriente que atraviesa un transistor JFET es:<br />
[ λ ]<br />
I ( real) = I ( teor.)·1 + · V<br />
(3.48)<br />
DS DS DS<br />
siendo λ un valor llamado “coeficiente de modulación del canal”, propio de cada transistor.<br />
IDS(teo) representa a (3.39) ó (3.44).<br />
- Corriente de fuga por debajo de la tensión de pinch-off: En teoría, un transistor no deja<br />
circular corriente cuando la tensión de puerta es inferior a la de pinch-off. Sin embargo,<br />
ésta siempre existe. La causa es que la unión PN que forma la puerta y el canal comienza a<br />
conducir levemente. Estas corrientes son muy pequeñas (del orden de µA o inferior) pero<br />
su existencia está demostrada.<br />
- Variación de la movilidad: A medida que se estrecha el canal, los electrones deben ir a<br />
mayor velocidad para mantener constante el flujo de corriente. Esto puede provocar que la<br />
movilidad disminuya y que deban tenerse en cuenta la influencia de la movilidad, sobre<br />
todo en los dispositivos de AsGa.