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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 3<br />

El objetivo primordial de los transistores es la capacidad de amplificar pequeñas señales.<br />

Un transistor JFET en pequeña señal puede modelarse como una fuente de corriente controlada<br />

por la tensión de puerta. Las variaciones de la corriente eléctrica que atraviesa el transistor es<br />

proporcional a las variaciones de la tensión de puerta. Normalmente, el transistor trabaja en<br />

saturación y puede deducirse de (3.39c) que la ganancia es:<br />

g<br />

ms<br />

3I<br />

⎛ DSS = ⎜1− V ⎜<br />

P0 ⎝<br />

VBI −V ⎞ GS µ NNDWa⎛ ⎟= 1−<br />

V ⎟ ⎜<br />

P0 L ⎜<br />

⎠ ⎝<br />

VBI −VGS<br />

VP0<br />

⎞<br />

⎟<br />

⎠<br />

La máxima ganancia se consigue cuando VGS = 0 y es:<br />

68<br />

(3.46)<br />

max 3I<br />

⎛ DSS V ⎞ BI µ N NDWa⎛ V ⎞ BI<br />

gms<br />

= ⎜1 1<br />

V ⎜<br />

− ⎟<br />

P V ⎟<br />

= ⎜ − ⎟<br />

(3.47)<br />

P L ⎜ V ⎟<br />

⎝ ⎠ ⎝ P0⎠<br />

Sin embargo, un transistor real presenta una serie de no idealidades que deben tenerse en<br />

cuenta para describir su comportamiento eléctrico. A continuación se enumeran dichas no<br />

linealidades:<br />

- Resistencias parásitas: Antes de llegar al canal y tras salir de éste, la corriente eléctrica<br />

debe atravesar una zona del semiconductor muy poco dopada. En este caso, se producen<br />

caídas de tensión que deben modelarse como un par de resistencias en serie con el<br />

transistor.<br />

- Modulación del canal: De (3.40) se deduce que la corriente que atraviesa un JFET<br />

depende de la longitud del canal. A medida que aumenta la tensión VDS, el canal se hace<br />

más corto debido a la expansión de las regiones de vaciamiento. A consecuencia de esto, la<br />

corriente que atraviesa el canal aumenta si lo hace VDS. Por este motivo, es necesario añadir<br />

una dependencia adicional con la tensión de drenador. Experimentalmente, se ha<br />

demostrado que la corriente que atraviesa un transistor JFET es:<br />

[ λ ]<br />

I ( real) = I ( teor.)·1 + · V<br />

(3.48)<br />

DS DS DS<br />

siendo λ un valor llamado “coeficiente de modulación del canal”, propio de cada transistor.<br />

IDS(teo) representa a (3.39) ó (3.44).<br />

- Corriente de fuga por debajo de la tensión de pinch-off: En teoría, un transistor no deja<br />

circular corriente cuando la tensión de puerta es inferior a la de pinch-off. Sin embargo,<br />

ésta siempre existe. La causa es que la unión PN que forma la puerta y el canal comienza a<br />

conducir levemente. Estas corrientes son muy pequeñas (del orden de µA o inferior) pero<br />

su existencia está demostrada.<br />

- Variación de la movilidad: A medida que se estrecha el canal, los electrones deben ir a<br />

mayor velocidad para mantener constante el flujo de corriente. Esto puede provocar que la<br />

movilidad disminuya y que deban tenerse en cuenta la influencia de la movilidad, sobre<br />

todo en los dispositivos de AsGa.

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