UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID
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Introducción<br />
uso en el sistema final. Sin embargo, esta política presenta unos riesgos muy importantes: En<br />
primer lugar, la compañía propietaria del dispositivo puede cesar la producción del componente<br />
sin previo aviso o, lo que es peor, cambiar el proceso de fabricación. En este último caso, el<br />
trabajo realizado no sólo sería inútil sino peligroso pues el diseñador utiliza un componente<br />
totalmente convencido de su tolerancia a pesar de que podría no serlo ya. Para evitar este<br />
problema, varios organismos como la Agencia de Defensa de E.E.U.U., la Agencia Espacial<br />
Europea o el propio CERN han propuesto diversos protocolos de test para garantizar la<br />
tolerancia a la radiación de un componente. Desgraciadamente, es totalmente descabellado<br />
garantizar la tolerancia de un componente con una seguridad absoluta.<br />
Hay que reseñar que ambas políticas no se oponen entre sí sino que se complementan. En<br />
un mismo sistema pueden encontrarse componentes COTS y RADHARD. En otros casos, se<br />
pueden explotar simultáneamente ambas tendencias para desarrollar sistemas que realicen la<br />
misma función y utilizar en lugares diferentes según las dosis de radiación que vayan a recibir.<br />
Ya se ha comentado que la política COTS sugiere probar un componente y proponer su<br />
posterior uso. Desgraciadamente, la relación es equivalente a: Antes de proponer su uso, hay que<br />
probar un componente. Es decir, hay que realizar pruebas sobre todos los componentes que se<br />
prevea utilizar. Las pruebas en algunos componentes pueden ser obviadas, como aquellas que<br />
realizar sobre resistencias discretas o materiales magnéticos, pero, en general, cualquier<br />
componente que contenga un semiconductor debe ser examinado previamente. Este hecho<br />
supone una tarea abrumadora: Hay que examinar componentes discretos (diodos, transistores),<br />
amplificadores integrados de todo tipo, reguladores, conversores, comparadores, circuitos<br />
digitales, memorias, etc.<br />
Por tanto, los dispositivos electrónicos utilizados en el sistema de criogenia del LHC deben<br />
ser examinados previamente en un ambiente de radiación parecido al que se esperaba encontrar<br />
en las zonas de interés del LHC. Para llevar a cabo tal trabajo, se firmó en 1997 un acuerdo de<br />
colaboración (K476/LHC) entre el CERN y la Universidad Complutense de Madrid UCM, que<br />
se materializaron en los proyectos, patrocinados por la agencia CICYT, TIC98-0737, de 1998<br />
hasta 2001, y continuado en 2002 por el proyecto FPA2002-00912.<br />
Estos proyectos tenían como objeto caracterizar los dispositivos electrónicos tanto en el<br />
laboratorio como en el momento en que los componentes eran sometidos a radiación. En este<br />
sentido, se construyó en el Instituto Tecnolôgico e Nuclear de Portugal una fuente de neutrones<br />
tal que, al cabo de una semana de pruebas, se alcanzaba, por término medio, el flujo de neutrones<br />
esperado siendo la dosis de radiación gamma ionizante parecida a la calculada en el LHC. Las<br />
pruebas serían preparadas por el grupo de Instrumentación y Sensores de la Facultad de Ciencias<br />
Físicas de la Universidad Complutense de Madrid y toda la información sería transmitida al<br />
Grupo de Criogenia del LHC.