UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

Capítulo 7
(a)
(b)
Fig. 7.11: Evolución de la ganancia y de la tensión de offset de entrada de amplificadores de instrumentación construidos con
amplificadores tolerantes a la radiación, TLE2071 (a) y OPA627 (b).
JFET. En principio, esta elección garantizaría la tolerancia a la radiación incluso con dosis de
radiación del orden de 10 14 n·cm -2 . Por este motivo, se decidió construir amplificadores de
instrumentación de este tipo y examinados bajo radiación.
Se diseñaron placas en las que se encontrase la estructura de fig. 4.30 con resistencias de 22
kΩ y con potenciómetros en lugares clave: Por un lado, uno de ellos permitía variar la tensión de
offset de un amplificador operacional y anular la tensión de offset de salida. Por otro, la
resistencia R5 de fig. 4.30, cuyo valor era 22 kΩ, era sustituida por otra de 18 kΩ en serie con un
potenciómetro de 10 kΩ. Al variar el potenciómetro, la ganancia en modo común podía anularse.
Los principales problemas que se observaron durante la irradiación fueron los siguientes:
En primer lugar, la tensión de offset de la entrada de estos amplificadores se incrementa con el
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