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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 8<br />

Fig. 8.10: Dependencia del consumo de corriente de las<br />

referencias irradiadas frente a la alimentación.<br />

Asimismo, la relación entre la tensión<br />

de entrada y la corriente de alimentación<br />

también se ve afectada por el daño por<br />

desplazamiento (Fig. 8.10). En las muestras<br />

no irradiadas, se observa un progresivo<br />

incremento del consumo de corriente que se<br />

ve frenado cuando la entrada es<br />

suficientemente alta como para que la salida<br />

de la referencia alcance el valor nominal. A<br />

partir de este valor, el consumo apenas crece.<br />

En cambio, en las referencias medianamente<br />

irradiadas, se observa que el consumo<br />

aumenta en el rango de pequeñas tensiones, se para y comienza de nuevo a subir. Por otra parte,<br />

hay que reseñar que la influencia de las tensiones de alimentación es cada vez mayor en las<br />

referencias irradiadas. En el caso de que la dosis de radiación sea muy elevada, el consumo de<br />

corriente es mínimo.<br />

8.3 Referencias de tensión bandgap<br />

En este grupo, se irradiaron las referencias de tensión AD780 y REF02 de Analog Devices<br />

y los modelos REF02 y REF01 de Maxim. Todas las referencias están basadas en la celda de<br />

Brokaw y sólo se diferencian en las resistencias que realimentan al amplificador operacional. Por<br />

este motivo, la referencia de tensión AD780 tiene una salida de 2.5 ó 3.0 V, las referencias<br />

REF02, 5 V, y el modelo REF01, 10 V.<br />

Todas ellas tienen un terminal adicional que permite evaluar la temperatura interna de la<br />

referencia. Este terminal está unido al nodo TEMP de fig. 4.42 y es una tensión proporcional a la<br />

temperatura, como demuestra (4.90).<br />

8.3.1 Tensión de salida<br />

Como en las referencias de tipo Zener enterrado, en las referencias de tipo band-gap<br />

aparecen dos etapas diferenciadas de comportamiento. En primer lugar, se produce un suave<br />

incremento de la tensión de salida que no llega a ser superior a unos cuantos milivoltios (Fig.<br />

8.11a). Sin embargo, a partir de un determinado valor el crecimiento se ralentiza hasta que el<br />

comportamiento se invierte y la salida comienza a descender. Al llegar a una determinada dosis,<br />

el descenso de la tensión de salida se acelera hasta anularse completamente en la referencia de<br />

tensión AD780 (Fig. 8.11b).<br />

Una vez que finalizó la irradiación y que transcurrió el tiempo necesario para que se<br />

desactivasen las muestras, se procedió a medir la relación entrada-salida en este tipo de<br />

dispositivos. En el caso de la referencia de tensión AD780, la salida era continuamente nula. En<br />

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